提升极耳偏心距.ppt

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1、实施单位：工程部实施单位：工程部实施单位：工程部实施单位：工程部实施时间：实施时间：实施时间：实施时间：2005200520052005年年年年 04 04 04 04月月月月2005200520052005年年年年8 8 8 8月月月月166项目立项注册表项目立项注册表项目立项注册表项目立项注册表2.2.2.2.基线与目标基线与目标基线与目标基线与目标1.1.1.1.基本信息基本信息基本信息基本信息3.3.3.3.效果预算效果预算效果预算效果预算4.4.4.4.日程计划日程计划日程计划日程计划公司名称公司名称TCL金能电池有限公司项目编号项目编号项项目名称目名称提高极耳偏心距Cpk项项目目负

2、责负责人人钱敏项目类型项目类型 DMAIC BB DMAIC BB DMADV GB DMADV GB牵头部门牵头部门工程部涉及流程涉及流程工艺、生产、检验涉及产品涉及产品常规成品电芯项目成员项目成员钱敏（GB）、杨家荟（GB）、肖斌、伍贤会、蔡明、刘希万、李泽荣、李瑞霞区区 分分姓姓 名名意意 见见倡倡 导导 者者吴永刚主主 黑黑 带带夏雨生财务财务确确认认何雄军发发 起起 人人麦敬辉绿带绿带钱敏CTQ/y单位单位现水平现水平目标水平目标水平先进水平先进水平电芯极耳电芯极耳偏心距偏心距CpkCpk0.660.661.21.21.51.5项目项目 投入投入项目项目效益效益设备改良设备改良101

3、0万元万元极耳偏心距Cpk由0.66提高到1.2夹具制作夹具制作5 5万元万元D05年4月15日5月02日M5月03日5月23日A5月24日6月06日I/D6月07日7月25日C/V7月26日8月15日5 5.现状描述现状描述:现工艺条件下生产电芯极耳偏心距现工艺条件下生产电芯极耳偏心距cpk0.66,cpk0.66,不能满足高端客户要求不能满足高端客户要求,公司产品长期处于中低端市公司产品长期处于中低端市场。场。6 6.项目范围项目范围:常规叠片式常规叠片式电芯（电芯（PL-3450PL-3450、PL-3455PL-3455）-叠片、极耳定位、点焊极耳、包装热封。叠片、极耳定位、点焊极耳、

4、包装热封。7 7.效果及影响效果及影响:极耳偏心距极耳偏心距CpkCpk提高到提高到1.2,1.2,达到高端客户要求规格。达到高端客户要求规格。2项目背景项目背景项目背景项目背景A AMMI IC CD D 提升极耳偏心距提升极耳偏心距Cpk，提高客户满意度，提高客户满意度，增强增强TCL电池品牌魅力，为攻克高端客户电池品牌魅力，为攻克高端客户 打下有力基础打下有力基础1 1、以下是以下是以下是以下是0404年年年年1111月至月至月至月至0505年年年年4 4月极耳偏心距月极耳偏心距月极耳偏心距月极耳偏心距CpkCpk（数据来源于品质部（数据来源于品质部（数据来源于品质部（数据来源于品质部S

5、PCSPC系统系统系统系统PL-3455PL-3455、PL-3450PL-3450型号）。型号）。型号）。型号）。现阶段极耳偏心距过程能力远远不足，维持在较低水平波动，根本满足不了高端客户的要求现阶段极耳偏心距过程能力远远不足，维持在较低水平波动，根本满足不了高端客户的要求;极耳偏心距过极耳偏心距过程能力提高已成为开发高端客户瓶颈程能力提高已成为开发高端客户瓶颈!检测方法注：各型号极耳偏心距按检测方法注：各型号极耳偏心距按2h/次频度抽检（每个抽检样正、负极取偏心距最大者输入次频度抽检（每个抽检样正、负极取偏心距最大者输入SPC系统控）。系统控）。3y y的定义的定义的定义的定义CTQCTQ

6、：极耳偏心距：极耳偏心距：极耳偏心距：极耳偏心距 可操作的可操作的可操作的可操作的y y：y=fy=f（x x）x x为极耳偏心距：为极耳偏心距：为极耳偏心距：为极耳偏心距：极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值e e极耳中心线极耳中心线极耳中心线极耳中心线电芯中心线电芯中心线电芯中心线电芯中心线W1W1W2W2偏心距偏心距偏心距偏心距1=W1-W1=W1-W或偏心或偏心或偏心或偏心距距距距2=W2-W2=W2-Www为工艺标准理论值为工艺标准理论值

7、为工艺标准理论值为工艺标准理论值极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值超出规格线极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值超出规格线(-1,1)A AMMI ID DC C4高级流程图（高级流程图（高级流程图（高级流程图（SIPOCSIPOCSIPOCSIPOC）分析）分析）分析）分析A AMMI IC CD D包装包装热封热封点焊点焊极耳定位极耳定位过程范过程范围围产品范围：常规叠片式电芯产品范围：常规叠片式电芯注液注液半成品电半成品电芯制作芯制作极片冲切极片冲切叠片叠片检测检测5VOC/CTQVOC/CTQVOC/CTQVOC/CTQ分析分析分析分析A AMMI IC CD D

8、极耳偏心距过程能力很低正、负极耳偏心距正、负极耳偏心距过程能力偏心距规格线(-1,1)达到质量水平3.6sigmaCpk达到1.2提升竞争力正、负极耳偏心距6A AMMI IC CD D变量分析（鱼骨图）变量分析（鱼骨图）变量分析（鱼骨图）变量分析（鱼骨图）7A AMMI IC CD D FMEA FMEA FMEA FMEA分析分析分析分析筛选出筛选出筛选出筛选出6 6个主要因子：极耳个主要因子：极耳个主要因子：极耳个主要因子：极耳定位方法定位方法定位方法定位方法/自检、点焊方法自检、点焊方法自检、点焊方法自检、点焊方法/自检、自检、自检、自检、压焊趾方法、一次热封前自检压焊趾方法、一次热封

9、前自检压焊趾方法、一次热封前自检压焊趾方法、一次热封前自检8A AMMI IC CD D数据收集计划数据收集计划数据收集计划数据收集计划9测量分析方法：测量分析方法：测量分析方法：测量分析方法：1 1、PQCPQC实验室一，使用精密影像测量仪（仅一台），编号：实验室一，使用精密影像测量仪（仅一台），编号：实验室一，使用精密影像测量仪（仅一台），编号：实验室一，使用精密影像测量仪（仅一台），编号：TS-QT-0035TS-QT-00352 2、三名操作员，从生产线抽取、三名操作员，从生产线抽取、三名操作员，从生产线抽取、三名操作员，从生产线抽取1010只电芯，每人测量只电芯，每人测量只电芯，每人

10、测量只电芯，每人测量2 2次（盲测）次（盲测）次（盲测）次（盲测）A AMMI IC CD D10SV/ProcSV/Proc即即%R/T%R/T为为15.2620%15.2620%SV%SV即即%R&R%R&R为为12.9620%12.964104A AMMI IC CD D11A AMMI IC CD D%SV%SV即即%R&R%R&R为为15.6320%15.6320%SV/ProcSV/Proc即即%R/T%R/T为为15.0320%15.03484该测量系统具有很好的重复性与再现性该测量系统具有很好的重复性与再现性,完全可以信赖完全可以信赖!12A AMMI IC CD D数据展示数

11、据展示数据展示数据展示-流程能力分析流程能力分析流程能力分析流程能力分析13A AMMI IC CD D数据展示数据展示数据展示数据展示-流程能力分析流程能力分析流程能力分析流程能力分析结论结论:长短期过程能力相差不大长短期过程能力相差不大,维持在很低水平波动维持在很低水平波动,现工艺水平已无法再提高现工艺水平已无法再提高!14A AMMI IC CD D 测量阶段总结测量阶段总结测量阶段总结测量阶段总结 统计分析 找出根源 持续改进15A AMMI IC CD D数据门数据门数据门数据门/流程门分析流程门分析流程门分析流程门分析概要性描述概要性描述!16A AMMI IC CD D潜在潜在潜

12、在潜在X orX orX orX or原因原因原因原因(列表列表列表列表orororor鱼骨图鱼骨图鱼骨图鱼骨图)概要性描述概要性描述!17A AMMI IC CD D根本原因分析根本原因分析根本原因分析根本原因分析概要性描述概要性描述!18A AMMI IC CD D分析阶段总结分析阶段总结分析阶段总结分析阶段总结概要性描述概要性描述!19A AMMI IC CD D针对根本原因的潜在解决方案及优选针对根本原因的潜在解决方案及优选针对根本原因的潜在解决方案及优选针对根本原因的潜在解决方案及优选概要性描述概要性描述!20A AMMI IC CD D解决方案的风险分析解决方案的风险分析解决方案的

13、风险分析解决方案的风险分析概要性描述概要性描述!21A AMMI IC CD D改进方案的实施计划改进方案的实施计划改进方案的实施计划改进方案的实施计划概要性描述概要性描述!22A AMMI IC CD D试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证试运行及效果验证概要性描述概要性描述!23A AMMI IC CD D控制计划控制计划控制计划控制计划 概要性描述概要性描述!24A AMMI IC CD D响应计划响应计划响应计划响应计划(用于产品改进用于产品改进用于产品改进用于产品改进)25A AMMI IC CD D响应计划响应计划响应计划响应计划(用于流程改进用于流程改进用于流程改进用于流程改进)“应当是应当是”过程过程图图指指 标标规格和目标规格和目标数据收集数据收集控制方法控制方法过程改进过程改进26A AMMI IC CD D对对对对 CTQs or CTQs or CTQs or CTQs or 关键关键关键关键 Xs Xs Xs Xs 的控制图的控制图的控制图的控制图 概要性描述概要性描述!27A AMMI IC CD D流程能力改进前后的对比流程能力改进前后的对比流程能力改进前后的对比流程能力改进前后的对比概要性描述概要性描述!28A AMMI IC CD D总结总结总结总结概要性描述概要性描述!29