GBT_6394-2002_金属平均晶粒度测定法.pdf

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1、ICS 77. 040. 30H 24署黔 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB / T 6 3 9 4 - 2 0 0 2 金属平均晶粒度测定方法 Me t a l - me t h o d s f o r e s t i ma t i n g t h e a v e r a g e g r a i n s i z e 2 0 0 2 - 1 2 - 3 1 发布2 0 0 3 - 0 6 - 0 1 实施 雷 鑫 k 晶 巍 f4l M发 “ G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 o li青 本标准修改采用 A S T M E 1 1 2 -1 9 9 6 ( 测定

2、平均晶粒度试验方法 。 本标准 自实施之 日起 ， Y B / T 5 1 4 8 -1 9 9 3 金属平均晶粒度测定方法 作废 。 本标准根据 A S T M E 1 1 2 -1 9 9 6 重新起草。为了方便比较， 在资料性附录 D中列出了本国家标准 条款和 A S T M E 1 1 2 -1 9 9 6 标准条款的对照一览表。 由于我国法律要求和工业的特殊需要， 本标准在采用 八 S T M E l 1 2 1 9 9 6 标准时进行了修改。这 些技术性差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空 广 f 处 。在附录 D中给出了技 术差异及其 原因一览表以供参考。 本标准与 Y

3、B 丁5 1 4 8 - - 1 9 9 3 相 比主要变化如下 ： 一修改各系列评级图适用范围的说明 ： 一一将晶粒显示方法作为附录编写， 增加模拟渗碳法和网状铁素体法， 删去珠光体法， 并分奥氏体 晶粒形成及显示两部分叙述； 一 一 删去截点法中表 4 a 、 表 4 b 和图 3 ; 一 一增加了“ 6 非等轴晶试样的晶粒度” ； 一一增加了“ 7 含两相或多相及组元试样的品粒度” 。 本标准的附录 A、 附录 B 、 附录 C为规范性附录 ， 附录 D为资料性附录 本标准 由原国家冶金工业局提出。 本标准由全国钢标准化技术委员会归日。 本标准主要起草单位： 抚顺特殊钢（ 集团） 有限责

4、任公司、 冶金工业信息标准研究院。 本标准主要起草人： 曾文涛、 架燕、 谷强、 刘忠平。 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 引言 本标准规定了金属材料平均晶粒度的基本测量方法。由于纯粹以晶粒几何图形为基础， 与金属或 合金本身无关。因此， 这些基本方法也可用来测量非金属材料中晶粒、 晶体和晶胞的平均尺寸。如果材 料的组织形貌接近于某一个标准系列评级图， 可使用比 较法。 测定平均晶粒度常用比 较法， 也可用截点 法和面积法。但是， 比较法不能用来测量单个晶粒。 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 金属平均晶粒度测定方法 1 范围 1 . 1 本标准规定了金属组织

5、的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒形状与本标准系 列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织， 但经具体规定后也适用于多相或多 组元的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。 1 . 2 本标准使用晶粒面积、 晶粒直径 、 截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似 正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。 1 . 3 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量， 也就是试样截面显示出的二维晶粒， 不适用于试样 三维晶粒， 即立体晶粒尺寸的测量。 1 . 4 本标准仅作为推荐性试验方法， 它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。 2 术语和定义

6、下列术语和定义适用于本标准。 2 . 1 晶粒g r a i n 晶界所包围的整个区域， 即是二维平面原始界面内的区域或是三维物体内的原始界面内所包括的 体积。对于有孪生界面的材料 ， 孪生界面忽略不计。 2 . 2 晶粒度g r a in s iz e 晶粒大小的量度。通常使用长度、 面积、 体积或晶粒度级别数来表示不同方法评定或测定的晶粒大 小， 而使用晶粒度级别数表示的晶粒度与测量方法和计量单位无关。 2 . 3 晶 粒度 级别数g r a i n - s i z e n u m b e r 2 . 3 . 1 显徽晶 粒度级别数G m ic r o- g r a i n s i z e

7、 n u m b e r G 在 1 0 0 倍下 6 4 5 . 1 6 mm “ 面积内包含的晶粒个数 N与G有如下关系： N 二 2 G-1 2 . 3 . 2 宏观晶粒度级别数G m m a c r o- g r a in s iz e n u m b e r G 在 1 倍下 6 4 5 . 1 6 mm 面积内包含的晶粒个数 N与G 。 有如下关系： N 2 G . - 1 2 . 4 符号 本标准采用的符号见表 1 所示。 GB / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 表 1 符号及其说明 c 11c a l t 1;116cGm aLcJM JFJrJJJ(J tCJ, CM

8、b T 1 711( jC 1 -Q ( fi t-Fi : kaa it OAT r.3 CQ FMMf)QfAf-1% i. p i tYhJ: r.A I ? MMt, t iJ # 7 K 11 - - - mmN,y 1 #rd3hN AVL-lWMX )NA MMMA-L*a, J:d a1i x(MX) - I/mm2n, 3ff1Mum(1x) I/cnm2P I S , c(MxPL i 11 T 1c1 4.!i C(MX) I/mmp. t 1 1 111 fkl*Ifi* MAR(lx) I/xnm- vi af4MfI-fdl* A* - - 萨訞B,L訞BX溤訞C0

9、堸H0樴郂訞 T誁( 諤L諤X諤8繞繞 9(. 钢諤諤譆 譆,譆8譆O爛E乩繞E X糇0谸 3 使 褂 用 酶 概述螧档缱尤炔肌 3 .1颈曜 脊娑瞬 舛骄 鹊幕痉椒罕冉戏婊徒氐惴 。姆 范围 。 3 .1.1冉戏罕冉戏 法不需计算任何晶粒、截点或截矩。与标准系列评级图进行比较，评级图有的是标 准 脊 挂 彝 图 肌械氖 悄烤挡迤帽 冉戏拦榔妨仁币 话愦嬖谝欢钠4 - 0 . 5叮拦乐档闹叵 中 与 朐傧中酝J级。所示。? G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 结果是无偏差的 ， 重现性与再现 性小于 士0 . 5级。面积法精确 度关键在 于晶粒界 面明显划分 晶粒 的 计数。 3

10、 . 1 . 3 截点法： 截点法是计算已知长度的试验线段（ 或网格） 与晶粒界面相交截部分的截点数， 利用单 位长度截点数 P , 来确定晶粒度级别数G 。截点法的精确度是计算的截点或截矩的函数， 通过有效的统 计结果可达到士0 . 2 5 级的精确度 。截点法的测量结果是无偏差的 ， 重 现性 和再现性小于 士0 . 5 级 。对 同一精度水平 ， 截点法由于不需要精确标计截点或截矩数 ， 因而较面积法测量快 。 3 . 2 对于等轴晶组成的试样， 使用比较法， 评定晶粒度既方便又实用。对于批量生产的检验， 其精度已 足够了。对于要求较高精度的平均晶粒度的测定， 可以使用面积法和截点法。

11、截点法对于拉长的晶粒 组成试样更为有效。 3 . 3 不能以标准评级图为依据测定单个品粒。因为标准评级图的构成考虑到截平面与晶粒三维排列 关系， 显示出晶粒从最小到最大排列分布所反映出有代表性的正态分布结果。 所以不能用评级图来测 定单个晶粒。 3 . 4 测定晶粒度时， 首先应认识到晶粒度的测定并不是一种十 分精确的测量。因为金属组织是由 不同 尺寸和形状的三维晶粒堆积而成。即使这些晶粒的尺寸和形状相同， 通过该组织的任一截面（ 检验面） 上分布的晶粒大小 ， 将从最大值到零之间变化。因此 ， 在检验 面上不可能有绝对尺寸均匀的晶粒分布 ， 也不能有两个完全相同的检验面。 3 . 5 如有争

12、议时， 截点法是所有情况下仲裁的方法。 3 . 6 不能测定重度冷加工材的平均晶粒度。如有需要， 对于部分再结晶合金和轻度的冷加工材料可视 作非等轴 晶组成 。 3 . 7 在显微组织中晶粒尺寸和位置都是随机分布。因此， 只有不带偏见地随机选取三个或三个以I - 代 表性视场测量平均晶粒度才有代表性。 所谓“ 代表性” 即体现试样所有部分都对检验结果有所贡献， 而 不是带有遐想地去选择平均晶粒度的视场。只有这样， 测定结果的准确性和精确度才是有效的。 3 . 8 不同观测者的测量结果在预定的置信区间内， 有差异是允许的。 4 取样 4 . 1 测定晶粒度用的试样应在交货状态材料上 切取。试样的

13、数量及取样部位按相应的标准或技术条 件规定。 4 . 2 切取试样应避开剪切、 加热影响的区域。不能使用有改变晶粒结构的方法切取试样。 4 . 3 推荐试样尺寸为： 圆形（ 直径） : 1 0 m m -1 2 m m； 方形（ 边长） : 1 0 m m x 1 0 m m 4 . 4 晶粒度试样不允许重复热处理。 4 . 5 渗碳处理用的钢材试样应去除脱碳层和氧化层。 5 晶粒度测定方法 5 . 1 比较法 比较法是通过与标准系列评级 图对 比来评定平均晶粒度。 5 . 1 . 1 比较法适用于评定具有等轴晶粒的再结晶材料或铸态材料。 5 . 1 . 2 使用比较法评定晶粒度时， 当晶粒形

14、貌与标准评级图的形貌完全相似时， 评级误差最小。因此， 本标准有下列四个系列标准评级图”： a ) 系列图片工 ： 无孪晶晶粒（ 浅腐蚀）1 0 0 倍； b ） 系列图片0 ： 有孪晶晶粒（ 浅腐蚀） 1 0 0 倍； 1 )标准系列评级图请与冶金工业信息标准研究院联系。 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 c ) 系列图片m ： 有孪晶晶粒（ 深腐蚀） 7 5 倍； d ) 系列图片B : 钢中奥氏休晶粒（ 渗碳法） 1 0 0 倍。 5 . 1 . 3 对各种常用材料建议使用的标准系列评级图片见表2 所示。 表 2 标准系列评级 圈适用范围 系 列 图 片 号适 用 落 围

15、 I 铁素体钢的奥氏体晶粒即采用氧化法、 直接淬硬法 、 铁素体网法、 渗碳体网法及其他方法 I I一I 铁素体钢的铁素体晶粒I I 铝、 镁和镁合金、 锌和锌合金、 超强合金I I 奥氏体钢的奥氏体晶粒（ 带孪晶的） I图II】 不锈钢的奥氏体晶粒（ 带孪晶的）I I 镁和镁合金、 镍和镍合金、 锌和锌合金、 超强合金 ！ 渗碳钢的奥氏体晶粒I 奥氏 体钢 的 奥氏 体晶 粒（ 无 孪晶 的 ） 5 . 1 . 4 显微晶粒度的评定： 5 . 1 . 4 . 1 通常使用与相应标准系列评级图相同的放大倍数， 直接进行对比。 通过有代表性视场的晶粒 组织图象或显微照片与相应表系列评级图或标准评

16、级图复制透明软片比较， 选取与检测图象最接近的 标准评级图级别数 ， 记录评定结果 。 5 . 1 . 4 . 2 如将检测的晶粒图象与标准系列评级图投影到同一 荧屏上， 可提高评级精确度。 5 . 1 . 4 . 3 当待测晶粒度超过标准系列评级图片所包括的范围或基准放大倍数（ 7 5 , 1 0 0 倍） 不能满足需 要时 ， 可采用表 3 、 表 4 或按 5 . 1 . 4 . 4给出的关系进行换算处理。 5 . 1 . 4 . 4 若采用其他放大倍数 M进行比 较评定， 将放大倍数 M 的待测晶粒图象与基准放大倍数Mb 的系列评级图片比 较， 评出的品粒度级别数 G f ， 其显微晶

17、粒度级别数 G为： rG Q 式 中： Q = 6 . 64 3 9 1g 瓷 。 表 3 评级图1 在不同放大倍数下所测定的显微晶粒度关系 一幸目 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 表 4 与标准系列评级图 工 、 II . N 等同图象的晶粒度级别数 厅 抖 布 6111:*3Jsif-MMA4 c000 x)No. 2 No. 3 No. 4 No. 5 No. 6 No. 7 No. 8-2 -1 0 1 2 3 40 1 2 3 4 5 62 3 4 5 6 7 84 5 6 7 8 9 106 7 8 9 10 11 129, 10 11 ( 12 13 14招 5

18、 . 1 . 5 宏观晶粒度的评定： 5 . 1 . 5 . 1 对于特别粗大的晶粒使用宏观晶粒度进行的测定， 放大倍数为 1 倍， 直接将准备好的有代表 性的晶粒图象与 系列评级图I （ 非孪晶） 和图Q 及图1Q （ 孪晶） 进行比较评级。由于标准评级图是在 7 5 倍和 1 0 0 倍下制备的， 待测宏观晶粒不可能完全与系列评级图的级别一致。 为此， 宏观晶粒度可用平均 晶粒直径或表 6 所列的宏观晶粒度级别数 G、 来表示。 5 . 1 . 5 . 2 当晶粒较小时， 最好选用稍高的放大倍数 M进行宏观晶粒度的评定。若评出的晶粒度级别 数为G m ， 其宏观晶粒度级别数为 G , 为：

19、 G 。二G . 十氨 式 中： 氨、 6 . 6 4 3 9 1 g Mo 5 . 1 . 6 使用 比较法时， 如需复验 可改变放大倍数 ， 以克服初验结果可能带有的主观偏见。 5 . 2 面积法 面积法是通过计算给定面积网格内的晶粒数 N来测定晶粒度。 5 . 2 . 1 晶粒数 N的 计算： 将已知面积（ 通常使用 5 0 0 0 m m ） 的圆形测量网格置于晶粒图形上， 选用网格内至多能截获并不 超过 1 0 0 个晶粒（ 建议5 0 个晶粒为最佳） 的放大倍数M， 然后计算完全落在测量网格内的晶粒数 N 内和 被网 格所切割的晶粒数 N 交 ， 于是， 该面积范围内的晶粒计算 N

20、为： N一N - I- 1 N ， 一1 一门 2”儿 5 . 2 . 2 试样检测上的每平方毫米内晶粒数 n 。 的计算： 通过测量网格内晶粒数 N和观测用的放大倍数 M ， 可计算出实际试样面 LOX） 的每平方毫米内晶粒数 n e MZ。N n 片 一A 式 中： M所使用的放大倍数； N- 一 放大 M 倍时 ， 使用面积为 A的测量网格 内晶粒计数 ； A 一 一 所使用的测量网格面积， 单位为平方毫米（ m m ) o 5 . 2 . 3 晶粒度级别数 G的计算： G 3 . 3 2 1 9 2 8 1 g n 。 一2 . 9 5 4 ， 膨。N, 或( * 3 . 3 2 1

21、9 2 8 1 g 厂二不 二 二 卜 2 . 9 5 4 呐 、 ， ， 一 一 以A） 5 . 2 . 4 测量视场的选择应是不带偏见地随机选择， 不允许附加任何典型视场的选择， 这才是真实有效。 5 . 3 截点法 截点法是通过计数给定长度的测量线段（ 或网格） 与晶粒边界相交截点数 尸来测定晶粒度。 截点法较面积法简捷， 此方法建议使用手动计数器， 以防止计数的正常误差和消除预先估计过高或 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 过低的偏见。 对于非均匀等轴晶粒的各种组织应使用截点法， 对于非等轴晶粒度， 截点法既可用于分别测定三个 相互垂直方向的晶粒度， 也可计算总体平均晶

22、粒度。 截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法可不必过多的附加视场数， 便能自动补偿偏离等轴晶 而引起的误差。圆截点法克服了试验线段端部截点法不明显的毛病。圆截点法作为质量检测评估晶粒 度的方法是比 较合适的。 5 . 3 . 1 截点法的测定 5 . 3 . 1 . 1 平均截距 Z ： 试样检验面上晶粒截距的平均值。 L 1 M 尸A 式中： L 一 一 所使用的测量线段（ 或网格） 长度， 单位为毫米（ m m ) ; l 试样检验面上（Ox） 晶粒截距的平均值。 M观测用放大倍数； 尸 一 测量网格上的截点数； p ： 一 一 试样检验面 L 每毫米内的平均截点数。 5 . 3 . 1

23、 . 2 平均晶粒度级别数 G的计算： G（ 一6 . 6 4 3 8 5 6 1 g l ） 一3 . 2 8 8 、， 、 八 ， ， M 。 P、 7 -4 G二6 . 6 4 3 8 5 6 1 g甘生、 一3 . 2 8 8 一 一、 ” 气L ） 一 一 5 . 3 . 2 5 0 0 mm测盆网格 推荐使用 5 0 0 m m测量网格， 尺寸如图 I r ff A lzr 山1一一一一 十、 I、 I、火少叹1 1 一 卜 一 一 一 一 一一 十 一 一一一 一 一 l o o m m 直线总长： 5 0 0 m m ； 周长总和： 2 5 0 +1 6 6 . 7 +8 3

24、. 3 -5 0 0 . 0 m m ; 三个圆的直径分别： 7 9 . 5 8 m m , 5 3 . 0 5 m m , 2 6 . 5 3 mm, 图 1 截点法用 5 0 0 m m测f网格（ m m) G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 5 . 3 . 3 直线截点法 5 . 3 . 3 . 1 在晶粒图象 仁 ， 采用一条或数条直线组成测量网格， 选择适当的测量网格长度和放大倍数， 以 保证最少能截获约 5 0 个截点。根据测量网格的所截获的截点数来确定晶粒度。 5 . 3 . 3 . 2 计算截点时， 测量线段终点不是截点不予计算。终点正好接触到晶界时 计为 0 .

25、 5 个截点。 测量线段与晶界相切时， 计为 1 个截点。明显地与三个晶粒汇合点重合时， 计为 l . 5 个截点。在不规则 晶粒形状下， 测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点后有伸人形成新的截点， 计算截点时， 应 包括新的截点。 5 . 3 . 3 . 3 为了 获得合理的平均位 应任意选择 3 至 5 个视场进行测量。如果这一平均值的精度不满足 要求时， 应增加足够的附加视场。视场的选择应尽量广地分布在试样的检测面 上 。 5 . 3 . 3 . 4 对 于 明显的非等轴晶组织， 如经中度加工过的材料， 通过对试样三个主轴方向的平行线束来 分别测量尺寸， 以获得更多数据 。通常使用

26、纵 向和横 向部 分。必要 时也 可使 用法 向。图 1中任一 条 1 0 0 m m线段， 可平行位移在同一图象中标记“ 十” 处五次来使用。 5 . 3 . 4 单圆截点法 5 . 3 . 4 . 1 对于试样上不同位置晶粒度有明显差别的材料， 应采用单圆截点法， 在此情况下需要进行大 量视场的测量。 5 . 3 . 4 . 2 使用的测量网格的圆可为任一周长， 通常使用 1 0 0 m m, 2 0 0 m m和2 5 0 m m ， 也可使用图 1 所 示的各个圆。 5 . 3 . 4 . 3 选择适当的放大倍数， 以满足每个圆周产生 3 5 个左右截点。测量网格通过三个晶粒汇合点 时

27、， 计为 2 个截点。 5 . 3 . 4 . 4 将所需要的几个圆周任意分布在尽可能大的检验面上， 视场数的增加直至获得足够的计算 精度 。 5 . 3 . 5 三圆截点法 5 . 3 . 5 . 1 试验表明， 每个试样截点计数达 5 0 0时， 常获得可靠的精确度， 对测量数据进行 X Z ( K a i 方） 检 验， 结果表明截点计数服从正态分布， 从而允许对测量值按止态分布的统计方法处理， 对每次晶粒度测 定结果可计算出置信区间（ 方法见附录B ) , 5 . 3 . 5 . 2 测量网格由三个同心等距， 总周长为 5 0 0 m n 、 的圆组成， 如图 1 所示。将此网格用于测

28、量任 意选择的五个不同视场上， 分别记录每次的截点数。然后计算出平均晶粒度和置信区间， 如置信区间不 合适， 需增加视场数， 直至置信区间满足要求为止。 5 . 3 . 5 . 3 选择适 当的放大倍数 ， 使三个圆的试验网格在每一视场上产生 5 0个1 0 0 个截点计数， 目的 是通过选择 5 个视场后可获得4 0 0 个一5 0 。 个总截点计 一数， 以满足合理的误差。 5 . 3 . 5 . 4 测量网格通过三个晶粒汇合点时截点计数为2 个。 5 . 3 . 5 . 5 图2 给出5 0 0 m m测量网格在不同放大倍数下， 截点计数与晶粒度级别数 G的关系。 G B / T 6 3

29、 9 4 -2 0 0 2 一万 二 .,二 V9一一一一 一一夕声一一一一一魂牙称澎麟麟黝腿摧撼撇黔麟粼徽 允洲夕声一夕声一一夕声一一一 0 六Q we eeee wewe砂 匕石 wewewe 一一 一一 咯2 了倾授麟晒 妞屠豁麟概艇 撇 娜姗移 蘸 浇 二 沪 J 了 了 1 6 一 一7 一一 ，尸 一一一 一 一三攫 x 1 0 1 5 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 7 0 8 0 1 0 0 1 5 0 2 0 0 3 0 0 4 0 0 5 0 0 5 加m m测 盆网格卜 平 均截点数万 图 2 5 0 0 m m测，网格的截点计数直接确定显微晶粒度级别数 6 非等

30、轴晶试样的晶 粒度 6 . 1 如晶粒形状因加工而改变， 不再是等轴形状。对于矩形的棒材或板材晶粒度应在材的纵向、 横向 及法向截面上进行测定， 对于同棒材晶粒度应在纵向和横向截面 L 测定。如果等轴偏差不太大（ 3 : 1 形状比） ， 可在纵向试样面L 使用圆形测量网格进行分析。如果使用直线取向测量网格进行测定， 可使 用三个 主要截面的任意两个面上进行三个取 向的测量 。 6 . 2 面积法： 6 . 2 . 1 当晶粒形状不是等轴而变长， 运用面积法测定晶粒度方法是在三个主平面上进行晶粒计数， 也 就是测定纵向、 横向及法向平面 仁 放大 1 倍时每平方毫米内的 平均晶粒数n i ,

31、n . , . n ap 。 然后计算出每平 方毫米内的平均晶粒数n , . n a ( n a , Ila , cla p ） 13 6 . 2 . 2 通过而 平均值计算晶粒度级别数 “ 。 G 3 . 3 2 1 9 2 8 1 g n 。 一2 . 9 5 4 2 6 . 3 截点法； 6 . 3 . 1 要估计非等轴晶组织的晶粒度， 可使用圆测量网格随机地放在三个主检验面上进行。或使用直 线段在 3 个或6 个主要方向上 2 个或 3 个主检验面（ 见图 3 ） 进行截点计数。对于等轴形状偏离不太严 重（ 3 1 1 形状比） 的晶粒度的测量使用圆测量网格在纵向面上进行测量是可接受的

32、。 c s / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 r(9。一毛P(900) t(900) t(00) 1纵向面； t 一 横向面； p 一 法向面。 图 3 晶粒度测2中， 测f直线 6 种可能取 向 6 . 3 . 2 非等轴晶组织的晶粒度可以通过每毫米内晶界截点数平均值A 来确定。 ( r 6 . 6 4 3 8 5 6 1 g p , 一3 . 2 8 8 6 . 3 . 3 五值可通过测定三个基本平面上的单位长度长的截点数计算： A一（ p i! p , p ) 今 6 . 3 . 4 利用 l =1 / p , 关系， 通过取向面上平行（ 0 0 ） 和垂直（ 9 0 0 ） 于

33、变形方向的平均截距， 可确定晶粒伸 长率或各向异性系数 A I , l 1 （ 0 0 AI二 拼 共 斗 冬升 1 1 ( 9 0 ） 式中： 1 1 ( o , ） 一 一 纵向面上， 平行于变形方向土的平均截距； l , ( 9 0 0 ) 纵向面上， 垂直于变形方向上的平均截距。 6 . 3 . 5 三维晶粒的形状， 可通过三个主基础面上的平均截距来确定。 ii ( 0 0 ) ： l （ g o ) ， l , ( 9 0 0 ) 式中： l , ( 0 0 ) 纵向面上平行变形方向的平均截距； l , ( 9 0 0 ) 一 横向面上 垂直变形方向的平均截距； l , ( 9 0

34、0 ) 法向面上垂直变形方向的平均截距。 7 含两相或多相及组元试样的晶粒度 对于多相或多组元的晶粒度测定符合下述情况可依下述方法处理。 7 . 1 对少量的第二相的颗粒， 不论是否是所希望的形貌， 测定晶粒度时可忽略不计， 也就是说当 作为单 相物质结构来处理， 可使用面积法和截点法测定其晶粒度， 若无另有规定， 其有效的平均晶粒度应视作 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 为基体晶粒度。 7 . 2 比 较法对十大多一C 业生产检验， 如果第二相（ 或组元） 基本上与 基体晶粒大小相同由岛状或片状 组成， 或者是第二相质点（ 晶粒） 的数量少而尺寸又小的， 并位于初生晶粒的晶

35、界处， 此时可使用比较法。 7 . 3 面积法如果基体晶粒边界清晰可见， 且第二相（ 组元） 质点（ 晶粒） 主要存在于从体晶粒之间而不 在晶粒内时， 可使用面积法进行晶粒度测定。选用的测量网格面积大小， 应以只能覆盖纂体晶粒为度， 通过统计测量网格面积内晶粒数 N来确定基体晶粒度。其有效平均晶粒度由每一基相的晶粒度来 确定 。 7 . 4 截点法： 7 . 4 . 1 适用于 7 . 3 条面积法的限制条件同样适用于本截点法。此外， 还应确定荃相（ a ) 的体积分数 V v o 。然后使用单圆或三圆的测量网格， 计数出 测量网格与基体晶粒相交截的晶粒数 N 。 。按下述确定 基相晶粒的 平

36、均截距： 乙 2 一 （ Vv）。了 二， 二 份 二 八 气 M N p ） 式中： V V .一 为基相（ a ) 品粒体积分数， 可利用 V v . =A A . ( 基相品粒面积分数） 关系估计 V v . ; L 一 一 测量网格长度， 单位为毫米（ m m) ; M 一 放大倍数； N 。 一一 测量网格与基相晶粒交截数。 利用下式 计算出有效 晶粒度： G二 （ 6 . 6 4 3 8 5 6 1 g l , ） 一3 . 2 8 8 式中： I . - 一 基相（ a ) 品粒平均截距， 单 位为毫米（ m m ) o 8 晶粒度的数值表示 8 . 1 使用任何一种方法测量晶粒

37、度， 最初是以单位面积上的晶粒数（ N 户或单位长度上晶界截点数 （ 尸 ： ） 来表示。这些数值使用往往不方便 ， 因此， 通常以晶粒平均直径（ d ) 、 平均截距（ 2 ） 、 晶粒平均截面 积（ a ) 、 及晶粒度级别数（ G ） 等量来表示。 8 . 2 因为晶粒度的各种数值表示都是由 初测量值 n 。 和 p ； 通过对数或倒数关系而算出的。所以， 要表 示一组试样的晶粒度， 不能简单地将各个晶粒度计算值进行平均。否则所得到的平均值将是试样中实 际不存在的晶粒度， 并且也不能进行各种晶粒度计算值的相互转换。如取样数量少， 可取该组数值的中 位数表示试样的晶粒度。如取样数量多， 其

38、测量值服从正态分布， 可先求出 rt ， 和 p ！ 平均值后， 再计算 出晶粒度的 各数值。 8 . 3 若试样中发现晶粒不均匀现象， 经全面观察后， 如属偶然或个别现象， 可不予一计 算。如较为普遍， 则应计算出不同级别晶粒在视场中各占面积百分比。若品粒所占的面积不少于视场面积的 g o Y O ， 则只 记录此一种晶粒的级别数。否则， 应用不同级别数来表示该试样的晶粒度， 其中第一个级别数代表占 优 势的晶粒的级别。 8 . 4 如有需要， 对混合晶粒度评定时， 可将混合各部分的晶粒分别按单峰分布评定平均晶粒度， 并 测定 各部分的晶粒所占的百分比。如： 7 级 7 0 %, 2 级 3

39、 0 %, 8 . 5 任意取向、 均匀、 等轴晶粒的显微晶粒度各数值关系见 表 5 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 表 5 任意取向、 均匀、 等轴晶粒的显微 晶粒度关系 止 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 8 . 6 任意取向、 均匀、 等轴晶粒的宏观晶粒度各数值关系见表 6 e 表 6 任意取向、 均匀、 等轴晶粒的宏观晶粒度关系 二 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 9 晶粒 度报告 9 . 1 铁 素体钢 除用渗碳法显示奥氏体晶粒度外 ， 其他方法应报告如下内容 ： a ) 试样热处理的温度及保温时间； b ) 显示晶粒边界的方法；

40、 c ） 晶粒度级别数。 9 . 2 奥氏体钢 a ) 晶粒显示方法； b ） 晶粒度级别数 。 9 . 3 铜和铜合金 a ) 晶粒显示方法； b ) 晶粒度以毫米为单位按平均直径报出。所谓“ 平均晶粒直径” 是指检验面上所显示的晶粒平 均“ 直径” 。 9 . 4 其他金属及其合金 晶粒度显示方法及晶粒度数值按相关的技术条件或供需双方协议要求报告 。 9 . 5 混合晶粒度 遇混合晶粒度时， 应分别报告各种晶粒度及其所占面积百分比。 G B / T 6 3 9 4 -2 0 0 2 附录A （ 规范性附录） 晶粒度各种测f值的计算 A . 1 不同放大倍数间晶粒度各种测且值的换算 A .

41、1 . 1 面 积法中晶粒数按式（ A . 1 ) 换算： 一 ， M。 、 艺 Nl N。 了 芬 拼、 “ ， （A . 1） 气 M, ） 式中： N , 一 换算成放大倍数为Ml 的晶粒数； N ? - 一 放大倍数为 Mz 时测定的晶粒数。 A . 1 . 2 截点法中截点数按式 （ A . 2 ) 换算 ： 从 P ，二 P （ 菩 华） 。 （A. 2） 一 M， 式中： 尸 ； 一 换算成放大倍数为 M 的截点数 ； P ： 一放大倍数为从 时测定的截点数。 A . 1 . 3 长度按式（ A . 3 ） 换算 ： M ， 、 1 . 1 1 （ 丫 尸） 。 。 。 。 一 （A. 3） 一 M1 式 中： 1 , 一换算成放大倍数为M， 的长度； 1 ? 一一 放大倍数为 M， 时测定的长度 。 A