51单片机原理及应用实验指导书.docx

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1、51 单片机原理及应用试验指导书天津大学仁爱学院2010 年 10 月实 验 须 知一、 预习要求1. 试验前认真阅读试验教程中有关内容，明确试验目的和试验任务。2. 每次试验前应有预习报告，未预习者不允许参与试验。 3预习报告中：对软件试验，要求画出程序流程图，编好上机程序。二、 试验要求1. 试验是学习“汇编语言程序设计”这门课程的重要环节，试验课请勿迟到，缺席。2. 疼惜设备，保持清洁，不随便更换设备。3. 认真完成试验任务，试验结果经教师检查，教师对试验内容提问，对完成者做记录。4. 做试验时，发生事故，应马上切断电源，并马上向教师报告，检查缘由，吸取教训。5. 试验完毕，请整理试验设

2、备，再离开试验室。三、 报告要求每次试验后，应递交一份试验报告，报告中应包括以下内容：1. 试验名称、试验人姓名、学号、班级、所用的设备号。2. 试验目的、任务。3. 程序流程图、程序清单应加适量注释。4. 记录和分析试验结果。5. 依据试验目的认真做小结 51 单片机试验指导书第一章 51 单片机试验系统简介1.1 试验系统的特点EL-MUT-III 型单片机/微机教学试验系统具有开发、应用、试验相结合的高科技试验设备，系统具有以下特点：1、 CPU 可选用 80C31、8086、中任一种CPU,系统功能齐全，涵盖了微机/单片机教学试验课程的大局部内容。本课程选用 80C31 CPU2、 系

3、统承受开放式模块化构造设计，通过两组相对独立的总线最多可同时扩展 2 块应用试验板，用户可依据需要购置相应试验板，降低了本钱，提高了敏捷性，便于升级换代。3、 配有两块可编程器件：EPM7128 被系统占用。另一块 EPM7032 供用户试验用。两块器件皆可通过 JTAG 接口在线编程。使用格外便利。4、 敏捷的电源接口：配有PC 机电源插座，可由PC 供给电源。另外还配有外接开关电源，供给所需的+5V，12V，其输入为 220V 的沟通电。5、 系统的联机运行模式：即配有系统调试软件，系统调试软件分 DOS 版和WINDOWS 版两种，均为中文多窗口界面。调试程序时可以同时翻开存放器窗口、内

4、存窗口、变量窗口、反汇编窗口、波形显示窗口等等，极大地便利了用户的程序调试。该软件集源程序编辑、编译、链接、调试与一体，每项功能均为中文下拉菜单，简明易学。常常使用的功能均备有热键，这样可以提高程序的调试效率。8051 调试软件不仅支持汇编语言， 而且还支持 C 语言编辑调试。6、 系统的单机运行模式：即系统在没有与计算机连接的状况下，自动运行在单机模式，在此模式下，用户可通过键盘输入运行程序机器码，和操作指令，同时将输入信息及操作的结果在LED 数码管上显示出来。7、 系统功能齐全，可扩展性强。本试验系统不仅完全能满足教学大纲规定的根本接口芯片试验，其敏捷性和可扩展性数据总线、地址总线、掌握

5、总线为用户开放亦能轻松满足其课程设计、毕业设计使用等。1.2 系统概述1.2.1 系统的根本构造64KB64KBROMRAMI/O I/OA/DD/A8051DBABCB816EL-MUT-III 型微机/单片机教学试验系统是以微处理器 8051 为核心构成的微型计算机系统。承受扩展总线的形式构成。如图 1-1 所示。ROM 与片外 ROM 独立编址， 寻址空间为 64K，片外RAM 与 I/O 扩展统一编址，总寻址空间为 64K图 1-1试验系统的根本构造1、 微处理器：i80c31，它的P1 口、P3 口皆对用户开放，供用户使用。2、 时钟频率：6.0MHz3、 存储器：程序存储器与数据存

6、储器统一编址，最多可达64k.图 1-2PC 机和试验系统的根本连接1.2.2 存储器根本地址安排EL-MUT-III 型单片机/微机教学试验系统的存储器容量：1） 板载 ROM(监控程序 27C256)12k；在程序存储器中，0000H-2FFFH 为监控程序存储器区。2） RAM1(程序存储器 6264)8k 供用户下载试验程序，可扩展达 32k；用户可用，4000H5FFFH 为用户试验程序存储区，供用户下载试验程序。3） RAM2(数据存储器 6264)8k 供用户程序使用，可扩展达 32k。数据存储器的范围为：6000H-7FFFH，供用户试验程序使用。(RAM 程序存储器与数据存储

7、器不行同时扩至32k，具体与厂家联系)。见图 1-3：存储器组织图。用户 I/O 区FFFFH系统 I/O 区D000HCFEFHI/O 空间用户 I/O 区CFBFHRAM28000H7FFFH用户试验程序区供用户下载试验程序6000H5FFFHRAM 区5000H4FFFHRAM1用户试验程序区4000H3FFFH数据区2000H2FFFHROM12kB系统监控程序区ROM 区0000H图 1-3：存储器组织图留意：因用户试验程序区位于4000H5FFFH，用户在编写试验程序时要留意，程序的起始地址应为4000H，所用的中断入口地址均应在原地址的根底上，加上4000H。确认需连接的目标文件

8、的源文件名全部包含在当前已翻开的工程文件之中，假设没有，则需要重建立或翻开的工程文件，并包含源文件。I、 在源程序为汇编语言时，程序定位的方法为：在源程序中给定，使用多个 CSEG AT XXXXH 定位每个程序段，这样就不用在此参数项中输入参数。留意：除在程序第一段必需定位在复位起始PC=0000H 处之外，其它程序段必需定位在 4100H 以后。中断入口定位见键盘监控局部的系统资源安排章节。对于 8051 的源程序，程序开头应包含如下语句：CSEG at 0000H;LJMP start ;CSEG at 4100H;start： mov sp,60H;END;II、 在源程序为高级语言时

9、，程序定位的方法只能使用在此参数项中输入参数来解决。III、 堆栈大小参数，该选项只有在高级源程序连接时才有效，在汇编语言中， 堆栈的大小和位置可直接用伪指令在源程序说明。DSEG at XXh(位置) stack1:DS XXh(长度) 在源程序中包含如下语句：mov sp, #stack1;或者：ld sp, #stack1;在高级语言中，输入堆栈的或许长度，堆栈的位置由RAM 参数确定。1.2.3 用户中断入口地址安排外部中断 0 的原中断入口为0003H，用户试验程序的外部中断0 的中断程序入口为4003H，其他类推，见表1-1。表 1-1：用户中断程序入口表中断名称8051 原中断程

10、序入口用户试验程序响应程序入口外中断 00003H4003H定时器 0 中断000BH400BH外中断 10013H4013H定时器 1 中断001BH401BH串行口中断0023H4023H1.2.4 存储器的资源安排本系统承受可编程规律器件CPLDEPM7128 做地址的编译码工作，可通过芯片的JTAG 接口与PC 机相连，对芯片进展编程。此单元也分两局部：一局部为系统 CPLD，完成系统器件，如监控程序存储器、用户程序存储器、数据存储器、系统显示掌握器、系统串行通讯掌握器等的地址译码功能，同时也由局部地址单元经译码后输出插孔CS0-CS5给用户使用，他们的地址固定，用户不行转变。具体的对

11、应关系见表 1-2。另一局部为用户 CPLD，它完全对用户开放，用户可在肯定的地址范围内，进展编译码，输出为插孔 LCS0 LCS7，用户可用的地址范围见表 12。留意，用户的地址不能与系统相冲突，否则将导致错误。地址范围输出孔/映射器件性质系统/用户0000H-2FFFH监控程序存储器系统 *3000H-3FFFH数据存储器系统 *4000H-7FFFH用户程序存储器系统 *8000H-CFDFHLCS0-LCS7用户CFE0HPC 机串行通讯芯片 8250系统 *CFE8H显示、键盘芯片 8279系统CFA0H-CFA7HCS0系统CFA8H-CFAFHCS1系统CFB0H-CFB7HCS

12、2系统CFB8H-CFBFHCS3系统CFC0H-CFC7HCS4系统CFC8H-CFCFHCS5系统CFD0H-FFFFHLCS0LCS7用户注：系统地址中，除带“*”用户既不行用，也不行改外，其他系统地址用户可用但不行改。表 12：CPLD 地址安排表2、8051 的总线扩展方式扩展存储器和 I/O 端口方式试验室的试验板的地址的安排可用图1-2 所示。地址范围输出孔/映射器件性质系统/用户CFA0H-CFA7HCS0系统CFA8H-CFAFHCS1系统CFB0H-CFB7HCS2系统CFB8H-CFBFHCS3系统CFC0H-CFC7HCS4系统CFC8H-CFCFHCS5系统CFD0H

13、-FFFFHLCS0LCS7用户CFE0HPC 机串行通讯芯片 8250系统 *CFE8H显示、键盘芯片 8279系统1.3 对 8051 的供给的根本试验为了提高教学试验质量，提高试验效率，在该系统的试验板上，除微处理器外、程 序存储器、数据存储器外，还增加了8255 并行接口、8250 串行掌握器、8279 键盘、显示掌握器、8253 可编程定时器、A/D、D/A 转换、单脉冲、各种频率的脉冲发生器、输入、输出电路等模块，各局部电路既相互独立、又可敏捷组合，能满足各类学校，不同层次 微机试验与培训要求。可供给的试验如下：（1） 、8051P1 口输入、输出试验（2） 、简洁的扩展输入、输出

14、试验（3） 、8051 定时器/计数器试验1.4 电源系统（4） 、8051 外中断试验（5） 、8279 键盘扫描、LED 显示试验（6） 、8255 并行口输入、输出试验（7） 、8253 定时器/计数器试验（8） 、8259 中断试验（9） 、串行口通讯试验（10） 、ADC0809 A/D 转换试验（11） 、DAC0832 D/A 转换试验（12） 、存储器扩展试验（13） 、交通灯控试验该系统的电源供给了两种解决方案：1、 利用 PC 机的电源，可省去电源的费用，只需从PC 机内引出一组电源，从CPU 板的+5V、+12V、12V 电源插座中引入。该电源具有短路保护。2、 外接 2

15、20V 沟通到试验箱，有内置在试验箱里开关电源，产生本试验箱的供电。本系统只需更换不同的cpu 板，即可完成 8051、8086、80196 相应试验系统的全部试验。附录:51 单片机的最小系统1、 最小系统:根本的I/O 方式：P0,P1,P2,P3 四个 8 位的并行输入输出端口。图 1-4 51 单片机最小系统的电路图其次章根本电路介绍2.1 单片机/微机教学试验系统试验 PCB 简介2.1.1 教学试验系统试验 PCB 板简介EL-MUT-III 型微机教学试验系统由电源、系统板、CPU 板、可扩展的试验模板、微机串口通讯线、JTAG 通讯线及通用连接线组成。试验板的实物照片见图2-1

16、，试验板的功能区的位置定义见图 2-2 和键盘和简洁I/O 区的电路板见图 2-3 所示。EL-MUT-III 型微机教学试验系统外形美观，具有优良的电特性、物理特性，便于安装，运行稳定，可扩展性强。试验板上的插孔供学生试验时，插入电路芯片引脚电路的各种连接线使用。一、硬件资源1、 可编程并口接口芯片 8255 一片。2、 串行接口两个：8250 芯片一个，系统与主机通讯用，用户不行用。单片机的串行口，可供用户使用。3、 键盘、LED 显示芯片 8279 一片，其地址已被系统固定为CFE8H、CFE9H。硬件系统要求编码扫描显示。4、 六位 LED 数码管显示。5、 ADC0809 A/D 转

17、换芯片一片，其地址、通道 18 输入对用户开放。6、 DAC0832 D/A 转换芯片一片，其地址对用户开放，模拟输出可调7、 8 位简洁输入接口 74LS244 一个，8 位简洁输出接口 74LS273 一个，其地址对用户开放。8、 配有 8 个规律电平开关，8 个发光二极管显示电路。9、 配有一个可手动产生正、负脉冲的单脉冲发生器10、配有一个可自动产生正、负脉冲的脉冲发生器，按基频 6.0MHz 进展 1 分频CLK0、二分频CLK1、四分频(CLK2)、八分频 (CLK3)、十六分频CLK4输出方波。11、配有一路 0-5V 连续可调模拟量输出AN0。12、配有可编程定时器8253 一

18、个，其地址、三个定时器的门控输入、掌握输出均对用户开放。13、配有可编程中断掌握器 8259 一个，其中断IRQ 输入、掌握输出均对用户开放。14、2 组总线扩展接口，最多可扩展 2 块应用试验板。15、配有两块可编程器件 EPM7064，一块被系统占用。另一块供用户试验用。两块器件皆可通过JTAG 接口在线编程。使用格外便利。 51 单片机试验指导书图 2-1试验系统的电路板照片图 2-2试验板的功能区图 2-3试验板的键盘和简洁I/O 区的电路板照片 51 单片机试验指导书16、敏捷的电源接口：配有PC 机电源插座，可与PC 电源直接接驳。另外还配有外接开关电源，供给所需的+5V，12V，

19、其输入为 220V 的沟通电。2.1.2 51 单片机系统的扩展系统的组成51 单片机系统的扩展系统由端口P0 ,端口P2 通过构成微机系统的数据总线DB0-DB地址总线AB0-AB15,由端口P3 的WR,RD 信号线，芯片引脚/EA,/PSEN 组成掌握总线。图 2-4EL-MUT-III 型单片机试验箱的地址译码电路的参考电路图地址总线 AB15A0 的高位地址，经地址译码器 74LS138 产生了芯片的选通信号。其中/CS0,/CS1,/CS2就是芯片的片选信号。2.2 试验板的调试和测试首先，依据图 1-2 所示的PC 机和试验系统的根本连接，进展系统的连接。接通沟通电源。接通试验箱

20、的电源开关，试验箱通电。当系统上电后，数码管显示，TX 发光二极管闪耀，假设没运行系统软件与上位机PC连接则 3 秒后数码管显示 P_，假设与上位机建立连接则显示 C_。此时系统监控单元27C256、通讯单元8250、MAX232、显示单元8279， 75451，74LS244、系统总线、系统 CPLD 正常。假设特别则按以下步骤进展排解：1、 按复位按键使系统复位，测试各芯片是否复位；2、 断电检查单片机及上述单元电路芯片是否正确且接触良好；133、 上电用示波器观看芯片片选及数据总线信号是否正常；4、 在联机状态下，假设复位后RX、TX 发光二极管闪耀，则显示不正常，检查 8279 时钟信

21、号，断电调换显示单元芯片；假设复位后 RX、TX 发光二极管不闪耀，但显示正常，检查 8250 晶振信号，断电调换通讯单元芯片。5、 系统使用方法1） 用通信电缆将EL-MUT-III 型单片机教学试验系统侧面的RS232 接口与 PC 机的 COM 口相连接。2） 启动 EL-MUT-III 型单片机教学试验系统的电源开关，EL-MUT-III 型单片机教学试验系统面板上的 LED 显示“ 199502 ”，几秒后显示 P-。3） 双击桌面MCS51 快捷图标如图 1-1，启动 51 试验系统，启动后的界面如图 1-2。图 1-1图 1-24） 如需转变串口和波特率，在相应列表框中修改。点击

22、“确定”按钮后，马上试验系 统面板上的“PRESET”键，面板上的 LED 显示“C-”，同时 PC 机屏幕显示“51 EL 型80C51教学试验环境”界面，如图 1-3。图 1-351 EL 型80C51教学试验环境地面5） 通过“文件”菜单建或翻开汇编语言文件，也可通过工具按钮 建汇编文件。建汇编文件的扩展名为.ASM。6） 用“编译”菜单下的汇编命令或工具按钮 对汇编文件进展汇编。如有错误，应对文件重编辑，直至汇编无错误为止。7） 用“调试”菜单下的“调试”命令或工具按钮 进入“调试”界面，如图 1-4。图 1-4“调试”界面8） 用“调试”菜单下各调试命令，如图1-5 对汇编文件进展调

23、试，或用工具按钮对汇编文件进展调试。工具按钮的功能如图1-6。图 1-5图 1-6第三章 上机指导试验一 P1 口试验一一、试验目的：1. 学习P1 口作为输出口的使用方法。2. 延时子程序的编写和使用。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块。三、试验原理：试验原理如图 2-1-1。图 2-1-1P1 口输出试验电路1. P1 口的使用方法P1 口为准双向口，每一位都能独立地定义为输入位或输出位。作为输入位时，必需向锁存器相应位写入“1”。89S51 在复位时全部口锁存器均置为“1”，假设曾对口锁存器写过 “0”，此时要使它作为一个输入口，则应再次写入一个“1”

24、。2. 延时程序的实现常用两种方法实现延时程序，一是用定时器中断来实现，二是用指令循环来实现。在系统时间允许的状况下可以承受后一种方法。本试验系统晶振为 6.0MHZ，则一个机器周期为 12 6 us=2 us。延时 0.1s 的程序如下：MOV R7，#X1DEL1：MOV R6，#2002DEL2：DJNZ R6，DEL23DJNZ R7，DEL14程序中 X 为延时值。指令 MOV、DJNZ 需两个机器周期，所以每执行一条指令需要4us。延时程序中X 值应满足下式：4+X(4+2004+4=0.1106指令1时间指令2时间指令3时间指令4时间故 X=123.75D=7CH将 X=123.

25、75D=7CH 代入上式，得到实际延时时间约为0.1002S。3程序流程图：程序流程图见图2-1-2 和图 2-1-3。图 2-1-2点亮发光二极管程序流程图图 2-1-3 左移循环点亮发光二极管程序流程图四、试验内容与步骤1. 试验内容：1） P1 口做输出口，接八只发光二极管，依据程序流程图2-1-2，编写程序使P1 口 8 个发光二极管同时熄灭-延时点亮。2） 依据程序流程图 1-3，编写程序使P1 口 8 个发光二极管每隔一个左移循环点亮。2. 试验步骤：1） 将P1.0P1.7 分别连接发光二极管L1L8。2） 按流程图 2-1-2 编写程序，对程序进展编辑、汇编直至无语法错误。3）

26、 调试程序：（1） 单步调试，观看并记录相应存放器内容及发光二极管L1L8 的状态。（2） 全速运行程序，观看并记录发光二极管L1L8 的状态。4重复 2、3 步骤，进展试验内容 2 的试验。五、试验报告1. 写出访 P1 口 8 个发光二极管同时熄灭-延时点亮源程序清单，并对每条指令赐予注解。2. 写出访 P1 口 8 个 LED 每隔一个或二个左移循环点亮源程序清单，并对每条指令赐予注解。六、思考题1. 转变延时常数，重做试验。2. 修改程序，使LED 发光方式、方向等转变。七、编写程序：1. 点亮 8 个 LED 程序清单2. 循环点亮LED 程序清单试验二 P1 口试验二一、试验目的：

27、1. P1 口作为输入口的使用方法。2. 把握数据输入、输出程序的设计方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块三、试验原理：1. P1 口作为输入口试验原理见图 2-2-1图 2-2-1P1 口作为输入口试验电路2. 程序流程图：程序流程图见图2-2-2。四、试验内容与步骤：图 2-2-2显示P1 口状态程序流程图1. 试验内容：P1 口做输入口：如图2-2-1，P1 口的P1.0-P1.8 分别接8 个单刀双郑开关K1 K8，74LS273做输出口接八个LED，编写程序读取开关K1-K8 状态，并在LED 上显示出来。2. 试验步骤：1） 依据图 2-2-

28、1 连线，CS273 接CS0。2） 依据流程图 2-2-2 编写相应程序，对程序进展编辑、汇编直至无语法错误。3） 调试程序，拨动开关K1-K8，观看并记录程序运行结果。五、试验报告仿照试验一，写出相应的试验报告。六、思考题1. 图 2-2-1 中芯片 74LS273 的作用是什么？2. 在图 2-2-1 中，假设 LED 反转 1800，电路和程序如何修改？ 七、编写程序：通过 LED 将P1 口的状态显示试验三 中断试验一、试验目的：1. 外部中断技术的根本使用方法。2. 中断处理程序的编程方法。3. 中断嵌套处理程序的编程方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051

29、CPU 模块三、试验原理：1. 试验原理如图 2-4-1。图 2-4-1外部中断试验电路2. 程序流程图：程序流程图见图2-4-2。四、试验内容与步骤：图 2-4-2K1 中断掌握LED 程序流程图1. 试验内容：1） 单一外部中断掌握：按K1 在 INT0 端产生中断信号，从而使P1 的 8 个 LED 同时闪耀 5 次。2） 两级中断掌握中断嵌套：按 K1 使 8 个 LED 闪耀后，再按 K2 使 LED1 右移 3 次。2. 试验步骤：1） 按图 2-4-1 连接线路。2） 依据程序流程图编写程序，编辑程序并进展汇编。3） 运行程序，观看并记录LED 显示状况。4） 对试验内容 2 编

30、程，重复 2-3 步骤。观看并记录程序运行结果。五、试验报告1. 依据试验 1 内容写出相应的试验报告。2. 画出试验内容 2 的程序框图3. 对程序语句加以注解。六、思考题如何在程序中实现INT1 的中断优先权高于INT0 中断优先权？ 七、参考程序：;试验四;INT0 中断试验程序;主程序 8 个 LED 熄灭，等待INT0 中断试验四 定时器/计数器试验一一、试验目的：1. 把握 89S51 内部定时器、计数器的使用和编程方法。2. 定时器中断处理程序的编程方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块三、试验原理：1. 试验原理如图 2-5-1。图 2-5

31、-1 定时器试验电路1） 定时常数确实定承受定时器中断方法可实现时间延时，延时时间由主频和定时器方式来确定。本试验中时钟频率为 6.0 MHZ，其延时时间最大值约为 0.13s方式一下。假设要产生0.5 秒延时时间，需承受定时器定时和软件计数的方法来实现。为此我们可在主程序中设置初值用 R0为05H 的软件计数器和定时时间为 0.1s 的定时器。这样定时器每隔0.1s 产生一次中断，CPU 响应中断后将R0 中计数值减一，即可实现 0.5s 延时。定时器时间常数确实定方法如下：机器周期=12晶振频率=12/(6106)=2us=210-6s定时器工作于方式一，设计数初值为 X，则有216-X2

32、10-6 s =0.1s，由此可求得X=15536D=3CB0H。故初始值为TH=3CH，TL=B0H2） 初始化程序初始化程序包括定时器初始化和中断系统初始化，即对 IP、IE、TCON、TMOD 的相应位进展正确的设置，并将时间常数送入定时器中。3） 设计中断效劳程序和主程序中断效劳程序除了要完成计数减一工作外，还要将时间常数重送入定时器中，为下一次中断做预备。主程序则用来掌握发光二极管按要求挨次燃灭。2. 程序流程图：程序流程图见图2-5-2。图 2-5-2定时器T0 中断掌握LED 程序流程图四、试验内容与步骤：1试验内容：定时器工作于方式 1，每 0.5 秒 LED1LED8 闪耀。

33、2试验步骤：1） 按图 2-5-1 连接线路。2） 依据程序流程图编写程序，编辑程序并进展汇编。3） 运行程序，观看并记录LED 显示状况。五、试验报告依据试验内容写出相应的试验报告。变化把戏可自行设计，六、思考题1. 用定时器工作方式 0 或方式 2，能否实现本试验功能？2. 如能，修改程序并调试。3. 依据图 2-5-3，编写用T0 中断掌握LED 闪耀 5 次的程序。七、编写程序：图 2-5-3定时器T0 中断掌握LED 闪耀 5 次程序流程图试验五 定时器定时 0.5S 中断试验，LED 闪耀，R0：0.5s 延时循环次数试验五 定时器/计数器试验二倒计时试验一、试验目的：1. 进一步

34、把握定时器的使用和编程方法。2. 了解七段数码显示数字的原理。3. 把握用一个段锁存器，一个位锁存器同时显示多位数字的技术。二、试验设备： EL-MUT-III 型单片机试验箱、8051CPU 模块三、试验原理：1试验原理如图 2-6-1。图 2-6-1计数器试验电路数码管的显示常承受静态锁存和动态扫描两种原理，承受显示的电路构造也因显示原理不同而不同。本试验承受动态显示。动态显示就是一位一位地轮番点亮显示器的各个位扫描。将 8031CPU 的P1 口当作一个锁存器使用，供给动态显示的位码，74LS273 作为段锁存器，供给动态显示的段码。四、试验题目利用定时器 1 定时中断，掌握电子钟走时，

35、利用试验箱上的六个数码管显示分、秒，做成一个电子钟。显示格式为：60秒定时时间常数计算方法为：定时器 1 工作于方式 1，晶振频率为 6MHZ，故预置值Tx 为：2+16-Txx12x1/6x10+6=0.1sTx=15535D=3CAFH,故 TH1=3CH，TL1=AFH五、试验电路：六、试验接线：本试验用P1 口和锁存器 74L273 组成。将 P1 口的 P1.0P1.5 与数码管的输入 LED6LED1 数位选择相连,74LS273 的 O0O7与 LEDALED Dp 的段码相连,片选信号CS273 与 CS0 相连口地址：CFA0H。去掉短路子连接。七、程序流程图： 六、思考题1

36、. 用定时器工作方式 0 或方式 2，能否实现本试验功能？2. 如能，修改程序并调试。3. 承受查询方式编写程序，实现外部脉冲进展计数掌握LED。七、参考程序：试验六 键盘扫描试验一、试验目的：1 把握按键的构造及编程方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块三、试验原理：1试验原理如图 2-7-1。图 2-7-18255A 接口试验电路四、试验内容步骤：1. 试验内容：编写程序读取按键的值开关状态，在数码管上显示出来。2. 试验步骤：1） 按图 2-7-1 连接线路。2） 编写程序，编辑程序并进展汇编。3） 运行程序，按下按键，观看并记录数码管显示状况。五、

37、试验报告依据试验内容写出相应的试验报告。六、编写程序：试验七 8 位 A/D 转换器 ADC0809 接口试验一、试验目的：1. 了解A/D 转换器ADC0809 的工作原理。2. 把握ADC0809 与 89S51 接口电路设计方法。3. 把握A/D 转换程序编程方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块、数字万用表三、试验原理：1. 试验原理如图 2-8-1。图 2-8-189S51 与 ADC0809 接口电路2. 程序流程图：依据 A/D 与单片机连接方式和掌握系统本身要求的不同，实现 A/D 转换的软件设计方也不同。常用的掌握方式有程序查询、定是采样

38、和中断方式。定时采样方式程序流程图见图 2-8-2。四、试验内容与步骤1. 试验内容1） 从 ADIN0 输入模拟信号 VIN05V，间隔为 0.25V即 0V、0.25V0. 5V 、0.75V5V用万用表电压档测量该模拟信号的大小。2） 启动A/D 转换。用转换后数字量与万用表测量结果进展比较。3） 用模拟电压作横坐标，转换后的数字量作纵坐标作D-V 图，找出 ADC0809 的数字量输出值 D换算为十进制叔与模拟量输入值 VIN 之间的关系。检查 A/D 转换的线性度。2. 试验步骤：1） 按图 2-8-1 连线。ADIN0 接AN0，参考程序承受查询法，因此ADC0809 的 EOC

39、引脚不连接。2） 通过“V.ARJ”电位器调整加在 IN0 通道的电压，用数字万用表进展测量，从 0V 开头，间隔为 0.25V。3） 输入程序。对每个电压值，运行程序。转换后的数字量保存于20H 开头的单元。4） 读取 20H 开头的单元中的数据，并填入表格。VINVVOUT(H)0.000.250.500.751.001.251.501.752.002.25VOUT(D)VINV VOUT(H)2.502.753.003.253.503.754.004.254.504.755.00VOUT(D)图 2-8-2A/D 转换试验流程图五、试验报告1. 依据试验内容写出相应的试验报告。2. 用模

40、拟电压作横坐标，转换后的数字量作纵坐标作D-V 图，找出 ADC0809 的数字量输出值 D换算为十进制叔与模拟量输入值 VIN 之间的关系。检查 A/D 转换的线性度。六、思考题1. 假设程序承受中断法，电路应如何连接？2. 画出中断法流程图，修改程序，重做试验。七、参考程序：试验八 A/D 采样程序试验八 8 位 D/A 转换器 DAC0832 接口试验一、试验目的：1. 了解D/A 转换器DAC0832 的工作原理。2. 把握DAC0832 与 89S51 接口电路设计方法。3. 把握D/A 转换程序编程方法。二、试验设备：EL-MUT-III型单片机试验箱、8051CPU 模块三、试验

41、原理：1. 试验原理如图 2-9-1。图 2-9-189S51 与DAC0832 接口电路D/A 转换是把数字量转换成模拟量的变换，从D/A 输出的是模拟电压信号。产生锯齿波和三角波只需由A 存放的数字量的增减来掌握。MOVDPTR，#PORT；输入存放器端口地址送DPTRMOVA，#DATA；转换初值MOVXDPTR，A；送数据到输入存放器锁存INCDPTR；DAC 存放器端口地址送DPTRMOVXDPTR，A；送数据到DAC 存放器锁存并进展D/A 转换图 2-9-1 为双缓冲接口电路，数据要经过输入存放器和DAC 存放器两级缓冲后才能进入 D/A 转换电路。输入存放器和 DAC 存放器的地址由 A1 掌握，A1=0 掌握输入存放器， A1=1 掌握 DAC 存放器。因此输入存放器占偶地址端口PORT，DAC 存放器占较高的奇地址端口PORT+1。两个存放器均对数据独立进展锁存。因而要把一个数据通过0832 输出，要经两次锁存。启动D/A 转换程序如下：其中其次次I/O 写是一个虚拟写过程，其目的只是产生一个WR 信号，来启动D/A。2. 程序流程图：四、试验内容与步骤1. 试验内容利用DAC0832，编制程序产生锯齿波、三角波程序。2. 试验步骤：1） DAC0832 的