ict 测试原理.ppt

《ict 测试原理.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《ict 测试原理.ppt（58页珍藏版）》请在得力文库 - 分享文档赚钱的网站上搜索。

1、ict测试原理電阻測試 系统依标准值（系统依标准值（STD_VSTD_V）选取相应大小的电流选取相应大小的电流源。源。被測電阻愈大被測電阻愈大,測試電流須更小測試電流須更小,以確保以確保量回被測電阻兩端的電壓量回被測電阻兩端的電壓V VO O在規定的範圍在規定的範圍(0.151.5(0.151.5V)V)之內之內.2023/4/16Rx/C 測試順序是測試順序是:放電放電,充電和電壓測試充電和電壓測試.如如FIGURE4FIGURE4示示.考慮到電容的分流考慮到電容的分流,要先對其充電要先對其充電,經過經過T2T2以后以后,IcIc0.0.此時此時可量回准確的阻值可量回准確的阻值.故遇到故遇到

2、R/CR/C的情形的情形,釆用定電流源測試時釆用定電流源測試時,須加須加DELAY TIME.DELAY TIME.且且電容越大電容越大,延遲要更久延遲要更久,才能得到准確值才能得到准確值.2023/4/16當C較大(級以上)時,當當C C較大較大(級以上級以上)時時,若仍釆用定電流源方式若仍釆用定電流源方式,則電容會將電流源分流則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路直至電容充飽時才成斷路,這樣會消耗太久測量時間這樣會消耗太久測量時間.此時改以電壓源此時改以電壓源(0.2(0.2VDC)VDC)對電容充電對電容充電,迅速將電容迅速將電容加至加至0.20.2VDC(VDC(斷路斷路),),

3、再量再量回電流回電流IxIx值值,即可求得即可求得Rx,(Rx,(R RXX=0.2V=0.2VDCDC/I/IX X)在在TR-518FTR-518F系列测试系列测试仪仪中中,選擇選擇MODE2:MODE2:HIGHSPEEDFORHIGHSPEEDFORR/C,R/C,再加再加适量适量延時延時即可即可。2023/4/16EXAMPLE：如果在被測電如果在被測電阻阻R RX X的相關電路中有的相關電路中有電容存在電容存在,如如FIGURE10FIGURE10示示.通過設置虛地隔離點通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度可以提高測試速度,見見FIGURE 11,12.FIGURE 11,12.2

4、023/4/16Comparation：2023/4/16RX /D (FIGURE 6)推而廣之推而廣之,電阻與帶電阻與帶PNPN結的零件并聯結的零件并聯.(.(包包括括D,ZEN,TR,FET,D,ZEN,TR,FET,IC,IC,etc etc).).2023/4/16MODE 0 MODE 1 假設假設 R RX X=2k=2k 若若 I ISS=500A=500A 則則 V VRR=I=ISS*R=500*10*R=500*10-6 6(A)*2*10(A)*2*103 3()=1(V)()=1(V)此時此時D D已導通已導通,將將RxRx兩端限兩端限壓至約壓至約0.70.7V.V.

5、那么那么R RMM=0.7(V)/(500*=0.7(V)/(500*1010-6-6(A)=1.4*10(A)=1.4*103 3()=()=1.4kRx.1.4kRx.此時此時,要改以低一檔電流源測要改以低一檔電流源測試試.在在TR-518FTR-518F系列测试仪中系列测试仪中為為MODE1.MODE1.若若 I ISS=50A=50A 則則 V VRR=I=ISS*R=50*10*R=50*10-6-6(A)*(A)*2*102*103 3()=0.1(V)()=0.1(V)此時此時D D仍處于截止狀態仍處于截止狀態,故可故可量得正確的量得正確的RxRx值值.即即 R RMM=0.1(

6、V)/(50*10=0.1(V)/(50*10-6 6(A)=2*10(A)=2*103 3()=2(K)=()=2(K)=Rx.Rx.结论：结论：结论：结论：釆用低一檔電流源釆用低一檔電流源釆用低一檔電流源釆用低一檔電流源,可避免可避免可避免可避免D D的的的的“限壓限壓限壓限壓”.”.2023/4/16另外另外,互換高低點互換高低點(HIPINHIPINLOPIN).LOPIN).即即I IS S從從DIODEDIODE的陰極注入的陰極注入,亦亦可避免可避免D D的的“限壓限壓”.”.互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路路.2023/4/1

7、6RX/D/C 而對于而對于R RX X/D/C,/D/C,見見FIGURE 7.FIGURE 7.在在TR518FTR518F系列测试仪中系列测试仪中,選擇選擇MODE2:HIGH SPEED MODE2:HIGH SPEED FOR R/C,FOR R/C,因電壓源因電壓源為為0.20.2V VDCDC,故故D D仍處于仍處于截止狀態截止狀態,亦可避開亦可避開D D的的“限壓限壓”.”.2023/4/16RX /L (FIGURE 13)2023/4/16RX /L若仍以電流源量測Rx.由于L的暫態為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控制,而穩態時電感相當于“SHORT”,將電

8、流源完全分流,致Vx0,此時,須以AC來測量,使得L呈現一阻抗值(愈大愈好).再利用相位差即可計算出Rx,見 FIGURE 14.2023/4/16四點測量四點測量 適用于小電阻的精確適用于小電阻的精確測量測量.(如為兩點測量如為兩點測量,則則R RMM=R=RABAB R RX X)2023/4/16電容測試 由由OSCOSC分別產生分別產生1 1kHZ/kHZ/10kHZ/100kHZ/1MHZ 10kHZ/100kHZ/1MHZ 的的ACAC輸出信號輸出信號,其振幅均其振幅均為固定為固定(40(40mVmVrmsrms)(FIGURE)(FIGURE 16)16)VVS S/I/IXX=

9、X=XCC=1/(jC1/(jCXX)=1/(2fC=1/(2fCXX)量回量回I IX X 的振幅的振幅,即可求即可求得得C CX X .2023/4/16DC法法(3F以上以上)對于大電容對于大電容,若使用上述若使用上述AC電壓源模式測電壓源模式測試時試時,將需要較低頻率來測試將需要較低頻率來測試,從而增加從而增加ICT的測試時間的測試時間.另外另外,大電容交流阻抗很大電容交流阻抗很小小,如此無法判斷電容內部是否有短路發如此無法判斷電容內部是否有短路發生生.2023/4/16此時須以DC測量,見FIGURE17.測試順序(FIGURE18):在被測電容上加載定電流在被測電容上加載定電流,然

10、后通過測量其積然后通過測量其積分電壓分電壓,計算其電容值計算其電容值.2023/4/16CX/CCM=CX+C CX 2023/4/16CX /R (FIGURE 19)釆用釆用ACAC常規法常規法,則因則因R R的分流會使的分流會使C CM M C CX X.相位分離法相位分離法(FIGURE 20)FIGURE 20)2023/4/16電感測試 ACAC法法法法(FIGURE21)FIGURE21)FIGURE 21FIGURE 21 ACAC信號源與電容同信號源與電容同.V VSS/I/IXX=X=XLL=jLjLX X=2f=2fL LX X 量回量回I IX X振幅振幅,即可求得即可

11、求得L LX X 2023/4/16 DC法法 此時此時,電感相當于一個非常小的電阻電感相當于一個非常小的電阻,在在TRTR518F518F系列测试仪系列测试仪中中,將將TYPETYPE設為設為R,R,即將其當作小即將其當作小電阻測試電阻測試,這樣亦可測出電感的漏件和斷路情形這樣亦可測出電感的漏件和斷路情形,但對于內部短接則不可測出但對于內部短接則不可測出,比如比如TRANSFORMERTRANSFORMER內部相鄰的兩匝線圈因絕緣不良內部相鄰的兩匝線圈因絕緣不良而短接或者線圈匝數改變而短接或者線圈匝數改變,如仍以如仍以R R方式方式,則無法則無法測試測試,此時仍須用此時仍須用L L方式較為有

12、效方式較為有效.R R方式可作為方式可作為電感的一種輔助測試方式電感的一種輔助測試方式.2023/4/16LX /R (FIGURE 22)相位分離法相位分離法相位分離法相位分離法(FIGURE 23)FIGURE 23)2023/4/16DIODE D (D (各種零件的各種零件的各種零件的各種零件的PNPN結結結結,包括包括包括包括D,D,ZEN,LED,TR,FET,ZEN,LED,TR,FET,SCR,TRIAC,SCR,TRIAC,PHOTO COUPLER,PHOTO COUPLER,IC,IC,etc etc).).測試範圍測試範圍:2023/4/16齊納二極體齊納二極體(ZEN

13、ER)的齊納電壓的齊納電壓.對于大于對于大于1010V V的齊納的齊納電壓電壓,當錯成齊納電當錯成齊納電壓為壓為1010V V以下的齊納以下的齊納二極體時二極體時,應在可測之應在可測之列列.TR-518FRTR-518FR的最大测试的最大测试电压则为电压则为4848V V。對于對于TR518FTR518F，TRTR518FE518FE测试仪测试仪,由于系由于系統最大僅提供統最大僅提供1010V V以以下電壓下電壓,故齊納電壓故齊納電壓的測試範圍為的測試範圍為0.0100.010V.V.2023/4/16 LED 此時此時,將將ACT_VACT_V及及STD_VSTD_V均設為均設為2 2V V

14、或更或更高高,這樣可看到這樣可看到LEDLED發發光光.不然不然,要適當延要適當延時時,亦可看見發光亦可看見發光.2023/4/16 電容極性測試電容極性測試 測試方式測試方式:以可程式電壓以可程式電壓源源,對電容充電對電容充電,直至充飽直至充飽后后,再測量正向漏電流再測量正向漏電流.正常情況下正常情況下,反向漏電流反向漏電流會很大會很大.據此可測插反情據此可測插反情形形.但實際中但實際中,由于大量主由于大量主,被被動元件對電流的分流作用動元件對電流的分流作用,對電容的極性測試比較有對電容的極性測試比較有限限,須小心試之須小心試之 。電容極性測試的另一方法電容極性測試的另一方法是三端測試是三端

15、測試,須在上方加須在上方加一探針觸及殼體一探針觸及殼體.在電容在電容的正負極加載直流電壓的正負極加載直流電壓,至充飽后測量殼體電壓至充飽后測量殼體電壓.由于正負極與殼體間的阻由于正負極與殼體間的阻抗差異抗差異,故對于插反的電故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會容所測量到的殼體電壓會與正確時不同與正確時不同.據此可判據此可判別電容的極性別電容的極性.2023/4/16DX /D 如如FIGURE 24FIGURE 24示示,兩個二兩個二極體極體(推而廣之推而廣之,指指PNPN結結)異向并聯異向并聯,這時正這時正,反兩方反兩方向所測量到的電壓均約為向所測量到的電壓均約為0.70.7V.V.如以單步

16、測試如以單步測試,則可則可能出現其中一顆能出現其中一顆DIODEDIODE漏漏件件(或開路或開路)或插反不可測或插反不可測的情況的情況,故須釆用正故須釆用正,反向反向雙步測試雙步測試.這樣這樣,如有一顆如有一顆漏件或插反漏件或插反,則兩步當中則兩步當中必有一步測量結果遠大于必有一步測量結果遠大于0.70.7V.V.而對于同向并聯而對于同向并聯,雖雖然漏件然漏件(或開路或開路)必不可測必不可測,但增加一步反向測試但增加一步反向測試,則則插反必可以測插反必可以測.請注意請注意:釆用正釆用正,反向雙反向雙步測試有時甚至可偵出步測試有時甚至可偵出D D錯件或元件不良錯件或元件不良.因此因此,建建議在編

17、制測試資料時議在編制測試資料時,所所所所有二極體均釆用正有二極體均釆用正有二極體均釆用正有二極體均釆用正,反向反向反向反向雙步測試雙步測試雙步測試雙步測試.方法如下方法如下:按按CTRL+ENTERCTRL+ENTER插入一步插入一步後後,分別將分別將Stand_VStand_V設置設置為為9.99.9V,MODEV,MODE為為1,1,RPTRPT為為5/5/D,D,如并聯大電容如并聯大電容,則則要足夠延時要足夠延時.再按再按F8F8得得Meas_V,Meas_V,然后以然后以Meas_VMeas_V修修改改Stand_V,Stand_V,設設+/+/Lm%Lm%為為2030(2030(不提

18、倡使用不提倡使用1)1)2023/4/16DX /D2023/4/16 DX /C (FIGURE 25)測試方式測試方式測試方式測試方式:以可程式以可程式電壓源加載電流電壓源加載電流,對對電容進行充電電容進行充電,在充飽在充飽后測量其電壓后測量其電壓.TR-518FTR-518F系列测试仪系列测试仪提供提供MODE0(3mAMODE0(3mA););MODE1MODE1(20mA).(20 fF(normal)20 x 10-15F1/CT=1/Cx+1/CyCT=0 fF=0 x 10-15F2023/4/16EDIT:2023/4/16EDIT:2023/4/16指令樹狀結構圖(Command Tree)2023/4/162023/4/162023/4/162023/4/162023/4/162023/4/16此此课件下件下载可自行可自行编辑修改，修改，仅供参考！供参考！感感谢您的支持，我您的支持，我们努力做得更好！努力做得更好！谢谢!