LC光纤跳线可靠性试验报告模版.pdf

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1、 LC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告 版本:A.0 2009-Sep试验依据标准 IEC 61300/GR326 试验执行者 审 核 批 准 目 录 1 样品.1 1.1 跳线.1 1.2 适配器.1 1.3 外观图示.1 2 试验项目与结果讨论.2 2.1 端面检测.2 2.2 端面几何形状 3D 检测.3 2.2.1 检测条件.3 2.2.2 端面几何形状 3D 检测结果.4 2.3 插入损耗测试(IEC 61300-3-4 方法 B).4 2.3.1 测试方法.4 2.3.2 插入损耗测试结果.5 2.4 回波损耗(IEC 61300-3-6).6 2.4.1 测试示意图.6 2.5

2、机械振动试验(IEC 61300-2-1/GR-326).8 2.5.1 机械振动测试示意图.8 2.5.2 试验结果.8 2.6 插拔耐久性(IEC 61300-2-2/GR326).9 2.6.1 测试图.9 2.6.2 试验结果.10 2.7 光缆直拉试验(GR-326).11 2.7.1 试验方法.11 2.7.2 试验结果.12 2.8 耦合机构抗拉强度(IEC 61300-2-6).13 2.8.1 试验方法.13 2.8.2 试验结果.14 2.9 机械冲击(IEC 61300-2-12).15 2.9.1 试验方法.15 2.9.2 试验结果.16 2.10 扭转试验(IEC

3、61300-2-5).16 2.10.1 试验方法.16 2.10.2 试验结果.17 2.11 侧向静负载（侧拉）(IEC 61300-2-42).18 2.11.1 试验方法.18 2.11.2 试验结果.19 2.12 光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC 61300-2-44).20 2.12.1 试验方法.20 2.12.2 试验结果.20 2.13 温度循环(IEC 61300-2-22).21 2.13.1 试验方法.21 2.13.2 试验结果.22 2.14 综合高温高湿试验(IEC 61300-2-21).27 2.14.1 试验方法.27 2.14.2 试验结果.28 3

4、评价与结论.32 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 1 of 35 1 样品 1.1 跳线 样品两个尾端分别包含两个接头。光纤类型：SMF-28e 插芯类型：UPC陶瓷插芯 接头类型：LC/PC 胶类型：Epotek-353ND 1.2 适配器 适配器类型:LC/PC 图1 LC/PC型适配器 1.3 外观图示 图2 LC/PC连接器 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 2 of 35 2 试验项目与结果讨论 本报告的系列试验是为检查光纤连接器组装性能并且模拟其在使用过程中所受到的应力而制订的。这些试验项目以IEC 61300系列检验和试验程序为基础，同时兼顾了G

5、R-326-CORE要求的部分试验项目。表1列出了详细的检验和试验项目及其测试条件和要求。表1 试验方法与试验要求 序号 项目 试验依据 试验条件 技术要求 1 端面检测 IEC 61300-3-1 光学显微镜 见本报告表 4 2 端 面 几 何形状（3D）检测 IEC 61754-4 干涉仪 曲率半径:725mm 顶偏:典型50um；Max70um 光纤高度:+100-100nm;3 插入损耗 IEC 61300-3-4 方法 B 波长:1310nm&1550nm IL0.25dB 4 回波损耗 IEC 61300-3-6 方法1 波长:1310nm&1550nm RL45dB 5 机械振动

6、 IEC 61300-2-1/GR-326 频率：1055Hz,振幅:0.75mm,分别在 3 个方向振动 90 min.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 6 插拔耐久性 IEC 61300-2-2/GR-326 500次 每25次清洁1次；插损变化值0.2dB 7 光缆直拉 IEC 61300-2-4 离连接器末端 0.5m 处，用 90N负载,5N/s 直拉速度，保持时间120s.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 8 耦合机构抗拉强度 IEC 61300-2-6 离连接器末端0.2m处，40N负荷,5N/s加载，保持时间15s.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB

7、 9 机械冲击 IEC 61300-2-12 1.5m 处冲击 5 次 试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 10 扭转 IEC 61300-2-5 离连接器末端0.2m处，15N负荷,扭转角度:0,-180,0,+180.25次.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 11 侧 向 静 负载能力 IEC 61300-2-42 离连接器末端 0.5m 处，负荷1/0.5 N 保持 1 小时.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 12 光器件应力缓释抗弯性能 IEC 61300-2-44 离连接器末端0.2m处，2N负荷，90转动，循环100次 试验前后插损变化值0.2dB;回损

8、45dB 13 温度循环 IEC 61300-2-22+70-25,每分钟温度变化1,12 次循环.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 14 综合高温高湿 IEC 61300-2-21+65-10,最高温度时湿度95%RH，极限温度时恒温 1小时,循环10 次 试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 2.1端面检测 图三为端面指标图，每个标示区域的标准不一。LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 3 of 35 图3 光纤连接器端面的区域划分 表2 端面技术标准 区域名称 划痕 斑点 A区(纤芯区0-25um)没有划痕 没有斑点 B区（涂覆层区25-120 um）厚度为

9、3um时,没有划痕 2um,斑点量没有限制 2um 5um之间，可以接受5个斑点 5um,没有斑点 C 区(胶区120-130 um)厚度为 10um时,没有划痕 10um,没有斑点 D区(连接区130-250 um)划痕数量没有限制 10um,没有斑点 结果：通过 2.2 端面几何形状3D检测 2.2.1 检测条件 样品测试仪器见图4:设备:DORC and NORLAND干涉仪 设备型号:DORC ZX-1 mini:X115FHGZA614 NORLAND NC-300:2365593 图4 DORC and NORLAND 干涉仪 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 4

10、of 35 2.2.2 端面几何形状3D检测结果 表3 端面几何形状检测结果 LC/PC 连接器 曲率半径(mm)光纤高度(um)顶偏(um)通过/失败 530-0.1+0.1 70 1#11.51 0.011 32.61 通过 2#11.06 0.014 37.66 通过 3#11.45 0.018 19.19 通过 4#11.25 0.014 17.23 通过 5#12.04 0.001 13.51 通过 6#11.00 0.016 21.73 通过 7#12.13 0.000 7.91 通过 8#14.65 0.014 20.11 通过 9#11.52 0.014 36.74 通过 10

11、#9.10 0.021 30.35 通过 11#11.69 0.007 19.55 通过 12#13.76 0.003 45.38 通过 13#10.57 0.014 41.09 通过 14#12.46 0.015 28.13 通过 15#10.94 0.004 33.44 通过 16#11.09 -0.002 25.99 通过 17#10.63 0.006 21.30 通过 18#11.22 0.016 33.66 通过 19#11.45 0.008 41.34 通过 20#11.72 0.014 60.69 通过 最大值 14.65 0.021 60.69 通过 最小值 9.10 -0.0

12、02 7.91 平均值 11.56 0.010 29.38 注：批量产品的干涉总合格率不低于 85%。2.3 插入损耗测试(IEC 61300-3-4 方法B)2.3.1 测试方法 样品依据图5测试其插损 插入损耗定义：光源 光功率计 P1 光源 光功率计 P0 标准线 标准接头 标准适配器 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 5 of 35 图5 插入损耗测试图 测试设备：JDSU RM3750B 表4 标准适配器要求 条件 要求 插入损耗（标准接头）0.1 dB 标准接头用它插拔五次插入损耗变化值 0.1 dB 回波损耗（标准接头）55 dB 表5 标准接头要求 项目 要求

13、插芯凸出直径 2.49900.0003mm 插芯同心度 0.3 um PC APC 顶偏 30 um 30 um 曲率半径 10-20 mm 8-12 mm 光纤高度 50 nm 50 nm 研磨角度-0.2+0.2 7.8 8.2 2.3.2 插入损耗测试结果 表6 插入损耗结果(单位:dB)LC/PC 连接器 插入损耗 通过或失败 1310nm 1550nm 0.25dB 0.25dB 1#0.07 0.08 通过 2#0.1 0.08 通过 3#0.02 0.04 通过 4#0.19 0.15 通过 5#0.04 0.03 通过 6#0.11 0.09 通过 7#0.09 0.09 通过

14、 被测试跳线 标准线 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 6 of 35 8#0.21 0.16 通过 9#0.06 0.06 通过 10#0.15 0.13 通过 11#0.09 0.07 通过 12#0.23 0.18 通过 13#0.17 0.15 通过 14#0.1 0.07 通过 15#0.03 0.05 通过 16#0.09 0.06 通过 17#0.06 0.07 通过 18#0.15 0.12 通过 19#0.08 0.06 通过 20#0.15 0.12 通过 最大值 0.23 0.18 通过 最小值 0.02 0.03 平均值 0.11 0.09 Histog

15、ram of IL0246810120-0.050.06-0.100.11-0.150.16-0.200.21-0.25dBFrequency1310nm1550nm 图6 插入损耗直方图 结果:通过 2.4 回波损耗(IEC 61300-3-6)2.4.1 测试示意图 图7表示跳线回波损耗测试示意图 图7 回波损耗测试图 回损测试仪 标准接头 被测试跳线 标准适配器 标准跳线 Terminate LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 7 of 35 测试设备：JDSU RM3750B 2.4.2 回波损耗测试结果 表7 回波损耗测试结果(单位:dB)LC/PC 连接器 回波损耗

16、通过或失败 1310nm 1550nm 45dB 45dB 1#55.3 58.7 通过 2#53.5 57.6 通过 3#54.6 58.7 通过 4#53.9 58.1 通过 5#53.7 59.1 通过 6#54.3 56.8 通过 7#55.2 58.8 通过 8#51.6 54.2 通过 9#55.1 57.7 通过 10#54.8 57.4 通过 11#51.9 54.5 通过 12#52.2 54.7 通过 13#49.8 52.5 通过 14#53.5 52.6 通过 15#50.8 51.4 通过 16#53.7 52.8 通过 17#52.5 55.2 通过 18#51.7

17、 54.3 通过 19#54.6 57.3 通过 20#52.4 55.1 通过 最大值 55.3 59.1 通过 最小值 49.8 51.4 平均值 53.26 55.88 Histogram of RL0123456789-5050.1-5252.1-5454.1-5656.1-5858.1-60dBFrequency1310nm1550nm LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 8 of 35 图8 回波损耗直方图 结果：通过 2.5 机械振动试验(IEC 61300-2-1/GR-326)2.5.1 机械振动测试示意图 机械振动 IEC 61300-2-1/GR-326 频

18、率：1055Hz,振幅:0.75mm,分别在3个方向振动90 min.试验前后插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 图9 机械振动测试图 测试条件:振动频率:10 Hz-55 Hz 振动幅度:0,75 mm 振动轴数:3 每轴振动时间:30 min 每次振动扫描数:15 测试波长:1550nm 技术要求:实验前后插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.5.2 试验结果 表8 机械振动试验结果（单位：dB)连接头序号 实验前数据 X 轴方向 Y 轴方向 Z 轴方向 实验后数据 平均值 最大值 最小值 1#插损 0.11 0.1 0.1 0.11 0.09 0.10

19、0.11 0.09 回损 54.3 54.2 54.2 54 54 54.14 54.3 54 2#插损 0.08 0.08 0.08 0.08 0.09 0.08 0.09 0.08 回损 55.2 55.2 55.1 55.1 55 55.12 55.2 55 3#插损 0.12 0.11 0.12 0.12 0.12 0.12 0.12 0.11 回损 52.6 52.5 52.5 52.5 52.4 52.50 52.6 52.4 4#插损 0.07 0.08 0.08 0.08 0.08 0.08 0.08 0.07 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 9 of 35

20、回损 53.7 53.8 53.8 53.6 53.6 53.70 53.8 53.6 5#插损 0.07 0.08 0.09 0.09 0.08 0.08 0.09 0.07 回损 54.5 54.3 54.4 54.3 54.3 54.36 54.5 54.3 Vibration Test00.050.10.150.20.25Before During vibration X axesDuring vibration Y axesDuring vibration Z axesAfter IL(dB)1#2#3#4#5#Vibration Test45505560Before During

21、vibration X axesDuring vibration Y axesDuring vibration Z axesAfter RL(dB)1#2#3#4#5#图10 机械振动试验数据分析图 结果：通过 2.6 插拔耐久性(IEC 61300-2-2/GR326)2.6.1 测试图 插拔耐久性 IEC 61300-2-2/GR-326 500次 每25次清洁1次；插损变化值0.2dB 图11 插拔耐久性测试图 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 10 of 35 试验条件:插拔总次数:500次 清洁频率：每插拔25次清洁1次 测试波长:1550nm 插入损耗测试频率:每插

22、拔25次测试1次 回波损耗测试频率:每插拔25次测试1次 技术要求:每次测试插损变化值小于等于 0.2dB;回损大于等于 45dB 2.6.2 试验结果 表9 插拔耐久性试验结果（单位：dB)次数 清洁 LC/PC 连接器 插损 插损变化值 回损 原始值 双头 0.13 /52.4 24 无 0.16 0.03 52.2 25 单头 0.14 0.01 50.6 49 无 0.14 0.01 51.6 50 双头 0.10 -0.03 51.7 74 无 0.14 0.01 51.2 75 单头 0.11 -0.02 57.6 99 无 0.11 -0.02 56.0 100 双头 0.10

23、-0.03 57.0 124 无 0.10 -0.03 48.6 125 单头 0.07 -0.06 55.1 149 无 0.12 -0.01 52.3 150 双头 0.10 -0.03 56.2 174 无 0.13 0.00 56.5 175 单头 0.10 -0.03 56.0 199 无 0.10 -0.03 56.0 200 双头 0.10 -0.03 57.7 224 无 0.08 -0.05 54.4 225 单头 0.09 -0.04 55.8 249 无 0.10 -0.03 56.5 250 双头 0.11 -0.02 52.4 274 无 0.10 -0.03 52.

24、3 275 单头 0.11 -0.02 53.8 299 无 0.14 0.01 52.5 300 双头 0.11 -0.02 53.8 324 无 0.15 0.02 49.7 325 单头 0.13 0.00 51.7 349 无 0.14 0.01 51.6 350 双头 0.16 0.03 53.6 374 无 0.20 0.07 53.8 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 11 of 35 375 单头 0.12 -0.01 55.0 399 无 0.17 0.04 52.7 400 双头 0.11 -0.02 51.2 424 无 0.11 -0.02 54.0 4

25、25 单头 0.12 -0.01 52.3 449 无 0.12 -0.01 51.1 450 双头 0.14 0.01 55.4 474 无 0.13 0.00 58.3 475 单头 0.10 -0.03 57.4 499 无 0.11 -0.02 58.2 500 双头 0.09 -0.04 56.8 最大值 0.18 0.12 53.8 最小值 0.04 0.20 58.3 平均值 0.10 0.07 48.6 Mating durability0.000.050.100.150.200.25Initial2550751001251501752002252502753003253503

26、75400425450475500cycledB44.046.048.050.052.054.056.058.060.0dBILRL 图12 插拔耐久性试验的插损和回损数据分析图 结果：通过 2.7 光缆直拉试验(GR-326)2.7.1 试验方法 光缆直拉 IEC 61300-2-4 离连接器末端0.5m处，用90N负载,5N/s直拉速度，保持时间120s.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 0.5 m LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 12 of 35 图13 光缆直拉 试验条件:光缆外径:2.0mm LC、MU连接器拉力：90N 负载速度:5 N/s 最大负载停留

27、时间:2 min 测试波长:1550nm 技术要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.7.2 试验结果 表10 光缆直拉试验结果（单位：dB)连接头序号 损耗 实验前 0s 120s 实验后 平均值 最大值 最小值 1#插损 0.2 0.19 0.2 0.18 0.19 0.2 0.18 回损 57.9 58.1 57.9 57.1 57.75 58.1 57.1 2#插损 0.06 0.06 0.07 0.06 0.06 0.07 0.06 回损 57.1 57.3 57.3 57 57.18 57.3 57 3#插损 0.09 0.11 0.1 0.09 0.

28、10 0.11 0.09 回损 60.3 59.2 59 58.8 59.33 60.3 58.8 4#插损 0.14 0.15 0.13 0.13 0.14 0.15 0.13 回损 55.9 55.9 56 55.6 55.85 56 55.6 5#插损 0.1 0.11 0.11 0.09 0.10 0.11 0.09 回损 58.1 58.4 58.1 57.9 58.13 58.4 57.9 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 13 of 35 Cable Retention Test00.050.10.150.20.25Before0s120sAfter IL(dB)

29、1#2#3#4#5#Cable Retention Test4550556065Before0s120sAfter RL(dB)1#2#3#4#5#图 14 光缆直拉试验数据分析图 结果：通过 2.8 耦合机构抗拉强度(IEC 61300-2-6)2.8.1 试验方法 耦合机构抗拉强度 IEC 61300-2-6 离连接器末端0.2m处，40N负荷,5N/s加载，保持时间15s.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 14 of 35 图15 耦合机构抗拉强度 试验条件:光缆外径:2.0mm LC、MU连接器拉力：40N 负载速度:5 N/

30、s 最大负载停留时间:15s 测试波长:1550nm 技术要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.8.2 试验结果 表11 耦合机构抗拉强度试验结果（单位：dB)连接器序号 损耗 实验前 实验中 实验后 平均值 最大值 最小值 1#IL 0.13 0.28 0.14 0.18 0.28 0.13 RL 56.9 56 55.1 56.00 56.9 55.1 2#IL 0.17 0.18 0.17 0.17 0.18 0.17 RL 55.5 56 55.2 55.57 56 55.2 3#IL 0.13 0.13 0.12 0.13 0.13 0.12 RL 5

31、5.6 56 55.5 55.70 56 55.5 4#IL 0.1 0.1 0.1 0.10 0.1 0.1 RL 57.6 59.1 57.7 58.13 59.1 57.6 5#IL 0.15 0.17 0.17 0.16 0.17 0.15 RL 57.7 58.6 57.1 57.80 58.6 57.1 负载 0.2 m LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 15 of 35 Tensile Strenth of Coupling Mechanism00.050.10.150.20.250.3BeforeDuringAfter IL(dB)1#2#3#4#5#Tensi

32、le Strenth of Coupling Mechanism45505560BeforeDuringAfter RL(dB)1#2#3#4#5#图16 耦合机构抗拉强度试验数据分析图 结果：通过 2.9 机械冲击(IEC 61300-2-12)2.9.1 试验方法 机械冲击 IEC 61300-2-12 1.5m处跌落5次 实验前后插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 图 17 冲击试验示意图 试验条件:1.5 m 2 m LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 16 of 35 光缆外径:2.0mm 下落次数:5 次 下落高度:15m 测试波长:1550nm 技术

33、要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.9.2 试验结果 表12 机械冲击试验结果（单位：dB)连接头序号.损耗 实验前 实验后 插损变化值 1#插损 0.18 0.17 0.2 2#插损 0.15 0.18 3#插损 0.01 0.1 4#插损 0.11 0.12 5#插损 0.02 0.02 连接头序号.损耗 实验前 实验后 插损变化值 1#回损 56.3 56.1 45 2#回损 57.5 56.3 3#回损 57.4 56.7 4#回损 57.3 55.5 5#回损 57.1 56.1 结果：通过 2.10 扭转试验(IEC 61300-2-5)2.10.

34、1 试验方法 扭转 IEC 61300-2-5 离连接器末端0.2m处，15N负荷,扭转角度:0,-180,0,+180.25次.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 图 18 扭转性能试验图 Cable Clamp 负载 0.4 m LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 17 of 35 试验条件:光缆外径:2.0mm 负载加于离连接器0.4m处，负载大小:15 N 负载释放速度:1 N/s 扭弯回合:25次 测试波长:1550nm 技术要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.10.2 试验结果 表13 扭转试验结果（单位:dB)连接头序号 损

35、耗 实验前 0 次 25 次 实验后 平均值 最大值 最小值 1#插损 0.06 0.07 0.07 0.05 0.06 0.07 0.05 回损 55.9 55.5 55.5 55.5 55.60 55.9 55.5 2#插损 0.09 0.09 0.09 0.1 0.09 0.1 0.09 回损 55.7 56 56.1 56.1 55.98 56.1 55.7 3#插损 0.03 0.04 0.03 0.03 0.03 0.04 0.03 回损 56 56.2 56.1 56 56.08 56.2 56 4#插损 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 回损

36、 55.3 55.3 55.3 55.2 55.28 55.3 55.2 5#插损 0.02 0.02 0.02 0.04 0.03 0.04 0.02 回损 56.8 56.9 56.9 56.7 56.83 56.9 56.7 Torsion Test00.050.10.150.20.25Before0 cycle25 cycleAfter IL(dB)1#2#3#4#5#LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 18 of 35 Torsion Test45505560Before0 cycle25 cycleAfter RL(dB)1#2#3#4#5#图19 扭转性能试验数据分

37、析图 结果：通过 2.11 侧向静负载（侧拉）(IEC 61300-2-42)2.11.1 试验方法 图20 侧向静负载（侧拉试验图）试验条件:光缆外径:2.0mm 负载加于离连接器0.2m处 负载大小:光缆外径3.0mm时1 N；光缆外径2.0mm 时0.5 N 负载停留时间:60 min 测试波长:1550nm 侧向静负载能力 IEC 61300-2-42 离连接器末端0.5m处，1N/0.5 N 负荷，保持1小时.实验前后插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB Tensile Load 0.2 m Cable Clamp LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 19

38、 of 35 技术要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.11.2 试验结果 表14 侧拉试验结果（单位:dB)连接头序号 插损 平均值 最大值 最小值 0 min 10 min 20 min 30 min 40 min 50 min 60 min 1#0.08 0.11 0.06 0.11 0.1 0.12 0.1 0.1 0.12 0.06 2#0.11 0.09 0.09 0.09 0.08 0.08 0.09 0.09 0.11 0.08 3#0.01 0.01 0.02 0.01 0.01 0.03 0.02 0.017 0.03 0.01 4#0.07

39、 0.08 0.07 0.05 0.05 0.06 0.06 0.063 0.08 0.05 5#0.13 0.14 0.13 0.13 0.15 0.12 0.13 0.133 0.15 0.12 连接头序号 回损 平均值 最大值 最小值 0 min 10 min 20 min 30 min 40 min 50 min 60 min 1#57.3 56.9 56.7 56.2 56.1 56.1 55.9 56.46 57.3 55.9 2#55.1 55.3 55.5 55.4 55.5 55.7 55.6 55.44 55.7 55.1 3#53.4 53.3 53.4 53.5 53.

40、4 53.5 53.5 53.43 53.5 53.3 4#55.2 55.2 55.3 55.5 55.3 55.3 55.2 55.29 55.5 55.2 5#54.3 54.3 54.4 54.4 54.2 54.4 54.2 54.31 54.4 54.2 Static Side Load Test00.050.10.150.20.25Begin102030405060minIL(dB)1#2#3#4#5#Static Side Load Test45505560Begin102030405060minRL(dB)1#2#3#4#5#LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page

41、20 of 35 图21 侧拉试验数据分析图 结果：通过 2.12 光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC 61300-2-44)2.12.1 试验方法 光器件应力缓释抗弯性能 IEC 61300-2-44 离连接器末端0.2m处，2N负荷，90转动，循环100次 试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB 图 22 光器件应力缓释抗弯性能试验图 试验条件:光缆外径:2.0mm 负载加于离连接器0.2m处，负载大小:2N 循环次数:100 测试波长:1550nm 技术要求:每次测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 2.12.2 试验结果 表15 光器件应力缓释抗弯性能试验结果（单

42、位：dB)连接器序号 损耗 实验前 0 50 100 实验后 平均值 最大值 最小值 1#插损 0.21 0.21 0.21 0.21 0.23 0.21 0.23 0.21 回损 52.6 52.5 52.5 52.5 52.5 52.52 52.6 52.5 2#插损 0.12 0.11 0.11 0.11 0.11 0.11 0.12 0.11 回损 51.4 51.1 51 51 51 51.10 51.4 51 3#插损 0.07 0.08 0.09 0.08 0.08 0.08 0.09 0.07 回损 53.7 53.2 53 53.2 53.2 53.26 53.7 53 4#

43、插损 0.13 0.12 0.09 0.08 0.07 0.10 0.13 0.07 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 21 of 35 回损 52.8 52.7 52.7 52.7 52.7 52.72 52.8 52.7 5#插损 0.14 0.14 0.13 0.13 0.14 0.14 0.14 0.13 回损 52.5 52.3 52.3 52.3 52.3 52.34 52.5 52.3 Flexing of the Strain Relief Test00.050.10.150.20.25Before050100After IL(dB)1#2#3#4#5#Flex

44、ing of the Strain Relief Test45505560Before050100After RL(dB)1#2#3#4#5#图 23 光器件应力缓释抗弯性能试验数据分析图 结果：通过 2.13 温度循环(IEC 61300-2-22)2.13.1 试验方法 温度循环 IEC 61300-2-22+70-25,每分钟温度变化1,12 次循环.试验前后插损变化值0.2dB;回损45dB LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 22 of 35 试验条件:恒温时间:1 hour 温度变化率:1C/min 循环次数:12 测试波长:1310nm&1550nm 技术要求:每次

45、测试插损变化值小于等于0.2dB;回损大于等于45dB 测试设备:温度循环箱 图 25 温度循环试验图 2.13.2 试验结果 表16 温度循环测试结果分析（单位：dB)时间(h)插入损耗 1310 nm 1550 nm 0 0.08 0.11 0.5 0.1 0.12 1 0.09 0.13 1.5 0.1 0.13 2 0.1 0.12 2.5 0.11 0.13 3 0.08 0.12 3.5 0.06 0.13 4 0.07 0.13 4.5 0.07 0.13 5 0.05 0.13 5.5 0.08 0.12 h 70 25 1-25 2 3 4 5 6 7 8 光源 光功率计 环

46、境试验箱 标 准 适配器 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 23 of 35 6 0.07 0.12 6.5 0.08 0.11 7 0.06 0.11 7.5 0.07 0.12 8 0.06 0.1 8.5 0.06 0.11 9 0.07 0.13 9.5 0.09 0.11 10 0.1 0.12 10.5 0.07 0.11 11 0.05 0.14 11.5 0.06 0.13 12 0.07 0.13 12.5 0.06 0.14 13 0.06 0.13 13.5 0.07 0.13 14 0.06 0.14 14.5 0.06 0.13 15 0.07 0.1

47、 15.5 0.06 0.13 16 0.06 0.12 16.5 0.06 0.13 17 0.07 0.11 17.5 0.06 0.11 18 0.07 0.1 18.5 0.07 0.12 19 0.07 0.11 19.5 0.08 0.11 20 0.06 0.1 20.5 0.08 0.09 21 0.08 0.09 21.5 0.09 0.08 22 0.09 0.12 22.5 0.08 0.11 23 0.05 0.08 23.5 0.06 0.08 24 0.05 0.07 24.5 0.06 0.07 25 0.05 0.07 25.5 0.09 0.09 26 0.1

48、 0.08 26.5 0.06 0.08 27 0.07 0.07 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 24 of 35 27.5 0.06 0.08 28 0.06 0.07 28.5 0.05 0.07 29 0.05 0.08 29.5 0.07 0.08 30 0.06 0.08 30.5 0.05 0.07 31 0.06 0.06 31.5 0.06 0.07 32 0.07 0.07 32.5 0.06 0.08 33 0.08 0.08 33.5 0.06 0.09 34 0.06 0.09 34.5 0.06 0.08 35 0.07 0.07 35.5 0.0

49、6 0.06 36 0.06 0.09 36.5 0.07 0.09 37 0.07 0.11 37.5 0.07 0.11 38 0.08 0.12 38.5 0.06 0.13 39 0.07 0.13 39.5 0.06 0.12 40 0.06 0.11 40.5 0.06 0.1 41 0.05 0.12 41.5 0.05 0.13 42 0.06 0.11 42.5 0.06 0.12 43 0.07 0.12 43.5 0.06 0.11 44 0.07 0.1 44.5 0.07 0.13 45 0.04 0.12 45.5 0.08 0.12 46 0.07 0.11 46

50、.5 0.07 0.13 47 0.06 0.13 47.5 0.06 0.12 48 0.07 0.11 48.5 0.06 0.11 LC/PC 单模光纤跳线可靠性实验报告 Page 25 of 35 49 0.07 0.12 49.5 0.08 0.13 50 0.06 0.11 50.5 0.06 0.13 51 0.05 0.13 51.5 0.07 0.13 52 0.06 0.15 52.5 0.05 0.13 53 0.06 0.12 53.5 0.08 0.13 54 0.08 0.12 54.5 0.07 0.15 55 0.07 0.14 55.5 0.06 0.14 5