纳米材料的表征方法精选PPT.ppt

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1、关于纳米材料的表征方法第1页，讲稿共15张，创作于星期二纳米材料的表征纳米材料的表征v表征技术表征技术是指物质结构与性质及其应用的有关分析、测试方法，也包括测试、测量工具的研究与制造。v表征的内容包括材料的组成、结构和性质组成、结构和性质等。组成组成：构成材料的化学元素及其相关关系结构：结构：材料的几何学、相组成和相形态等性质：性质：指材料的力学、热学、磁学、化学等第2页，讲稿共15张，创作于星期二v1.形貌，电子显微镜（TEM、SEM）,普通的是电子枪发射光电子，还有场发射的，分辨率和适应性更好；v 2.结构，一般是需要光电电子显微镜，扫描电子显微镜不行 v3.晶形，单晶衍射仪，XRD，判断

2、纳米粒子的晶形及结晶度v 4.组成，一般是红外，结合四大谱图，判断核壳组成，只作为佐证 v5.性能，光-紫外，荧光；电-原子力显微镜（AFM），拉曼；磁-原子力显微镜或者专用的仪器 纳米材料表征手段第3页，讲稿共15张，创作于星期二透射电子显微镜（TEM）的主要功能研究纳米材料的结晶情况，观察纳米材料的形貌，分散情况评估纳米粒子的粒径。第4页，讲稿共15张，创作于星期二扫描电子显微镜(SEM)vSEM是一种多功能的电子显微镜分析仪器.v1935年卡奴提出了SEM的工作原理v1942年制造出了世界上第一台SEMv现代的SEM是剑桥大学欧特利与学生在1948-1965年间研究成果.vSEM显示各种

3、图象的依据是电子与物体的相互作用.第5页，讲稿共15张，创作于星期二SEM的主要功能v三维形貌的观察和分析v观察分析纳米材料的形貌v直接观察大样品的原始表面第6页，讲稿共15张，创作于星期二扫描隧道显微镜(STM)STM针尖扫描隧道显微镜工作原理示意图 第7页，讲稿共15张，创作于星期二STMSTM在纳米材料中的应用在纳米材料中的应用v测量单分子、单个纳米颗粒、单根纳米线和纳米管等的电学、力学以及化学特性.v对表面进行纳米加工,构建新一代的纳米电子器件.第8页，讲稿共15张，创作于星期二STMSTM的优点的优点v它有原子量级的它有原子量级的极高分辨率极高分辨率(横向可达横向可达0.1nm0.1

4、nm，纵向可达，纵向可达0.01nm),0.01nm),即能直即能直接观察到单原子层表面的局部结构接观察到单原子层表面的局部结构 。比如表面缺陷、表面吸附体的形比如表面缺陷、表面吸附体的形态和位置等态和位置等.vSTMSTM能够能够给出表面的三维图像给出表面的三维图像vSTMSTM可可在不同的环境条件下工作在不同的环境条件下工作,包括真空、大气、低温包括真空、大气、低温,甚至样品可甚至样品可浸在水中或电解液中浸在水中或电解液中,所以适用于研究环境因素对样品表面的影响所以适用于研究环境因素对样品表面的影响.v可研究可研究纳米薄膜的分子结构纳米薄膜的分子结构.第9页，讲稿共15张，创作于星期二第1

5、0页，讲稿共15张，创作于星期二原子力显微镜原子力显微镜AFMAFM第11页，讲稿共15张，创作于星期二AFMAFM的主要应用的主要应用v纳米材料的形貌测定v生物材料研究v黏弹性材料的表面加工第12页，讲稿共15张，创作于星期二X射线衍射法（XRD）vXRD是鉴定物质晶相的有效手段。v利用XRD谱图可以推断出纳米材料的结晶度和层状结构的有序度。v利用XRD图结合Debye-scherrer公式，又衍射峰的半高宽计算对应晶面方向上的平均粒径D=R/cos D为粒子直径，R为Scherrer常数（0.89）,为入射X光波长（0.15406 nm），为衍射角（），为衍射峰的半高峰宽（rad）。第13页，讲稿共15张，创作于星期二XRD在纳米材料中的应用v物相结构的分析v介孔材料的分析v纳米薄膜的厚度以及界面结构的测定.第14页，讲稿共15张，创作于星期二感谢大家观看第15页，讲稿共15张，创作于星期二