光缆知识摸底测试报告.doc

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1、MLCMLC 项目通信传输系统项目通信传输系统光缆测试报告光缆测试报告北京建谊建筑工程有限公司2010 年 7 月 21 日一、一、光缆测试说明光缆测试说明1 1、通信系统说明通信系统说明MLC 项目配套工程包括通信传输系统，由 MLC 在 TCC 通信机房、小营/西直门 MLC 机房分别新设一套 2.5G 传输设备，三套传输设备通过光缆组成 4 芯复用段保护环网，通过 TCC 既有配线架与各线 OCC 在 TCC 设置的传输设备业务层互联。MLC 新设的传输设备通过 TCC 既有 ODF 与 MLC 机房新设 ODF 通过光缆连接，实现各线 LC 业务接入 MLC。2 2、光纤使用说明光纤使

2、用说明1）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心） ，占用南环 4 芯光纤；2）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备，占用北环 4 芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC通信设备，新敷设 1 根 24 芯光纤；4）西直门 8 层 MLC 机房（灾备中心）至西直门 7 层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦西辅楼 B1 层通信配线间（南环在

3、此处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层 MLC 机房（生产中心）至京投大厦西辅楼 7 层配线间，新敷设 2 根 4 芯多模光缆。 （此处的 2 根 4 芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆） ；此次测试针对以上 6 部分进行。3 3、测试仪器测试仪器采用信维牌 OTDR（光时域反射仪） ，具体型号为 S20。4 4、相关图纸相关图纸MLC 项目通信系统光纤传输路由图二、二、光缆测试内容光缆测试内容光缆测试包括以下内容：光缆熔接损耗（MLC 项目中的光缆熔接点） ；3 处 MLC 通信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下

4、：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的 1 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 4 芯多模光缆；3 处 MLC 通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门 8 层 MLC 通信设备与京投大厦西辅楼一层 MLC 通信设备之间的链路衰减；西直门 8 层 MLC 通信设备与京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层 MLC 通信设备与京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备之间的链路衰减；三、三、测试目的测试目的序号序号测试内容测试内容测试目的测试目的合格标准合格标准备注备注1光缆熔接损耗检查光纤熔接

5、质量每个熔接点损耗 0.08dB光纤熔接规范2西直门 8 层 MLC 通信设备与 京投大厦西辅楼一层 MLC 通 信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰 减的要求3西直门 8 层 MLC 通信设备与 京投大厦东辅楼三层 TCC 机 房 MLC 通信设备之间的链路 衰减检查光纤链路质量25dB通信设备对光衰 减的要求4京投大厦西辅楼一层 MLC 通 信设备与京投大厦东辅楼三 层 TCC 机房 MLC 通信设备之 间的链路衰减检查光纤链路质量15dB通信设备对光衰 减的要求四、四、光缆测试光缆测试记录记录1 1、西直门新敷设西直门新敷设 1 1 根根 2424 芯光纤熔接质量测

6、试记录芯光纤熔接质量测试记录在西直门 8 层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在西直门 7 层通信配线间，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点：8 8 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗

7、损耗是否合格是否合格1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）测试地点：测试地点：8 8 层层

8、 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否2

9、1.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：2 2、京投大厦新敷设京投大厦新敷设 2 2 根根 2424 芯光纤熔接质量测试记录芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 B1 层通信配线间，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：B1B1

10、 层通信配线层通信配线 间间双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗B1B1 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗是否合格是否合格1.每个熔接点损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08

11、dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：B1B1 层通信配线层通信配线 间间双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗1 1 层熔接点层熔接点

12、 损耗损耗B1B1 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗B1B1 层熔接层熔接 点损耗点损耗15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：在京投大厦西辅楼

13、一层 MLC 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼 3 层通信配线间，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：3 3 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗3 3 层熔接点损层熔接点损 耗耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗是否合格是否合格1.每个熔接点

14、损耗0.08dB是 否2.每个熔接点损耗0.08dB是 否3.每个熔接点损耗0.08dB是 否4.每个熔接点损耗0.08dB是 否5.每个熔接点损耗0.08dB是 否6.每个熔接点损耗0.08dB是 否7.每个熔接点损耗0.08dB是 否8.每个熔接点损耗0.08dB是 否9.每个熔接点损耗0.08dB是 否10.每个熔接点损耗0.08dB是 否11.每个熔接点损耗0.08dB是 否12.每个熔接点损耗0.08dB是 否13.每个熔接点损耗0.08dB是 否14.每个熔接点损耗0.08dB是 否15.每个熔接点损耗0.08dB是 否16.每个熔接点损耗0.08dB是 否光纤光纤 芯数芯数合格标

15、准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：3 3 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗3 3 层熔接点损层熔接点损 耗耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗17.每个熔接点损耗0.08dB是 否18.每个熔接点损耗0.08dB是 否19.每个熔接点损耗0.08dB是 否20.每个熔接点损耗0.08dB是 否21.每个熔接点损耗0.08dB是 否

16、22.每个熔接点损耗0.08dB是 否23.每个熔接点损耗0.08dB是 否24.每个熔接点损耗0.08dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：3 3、京投大厦新敷设京投大厦新敷设 2 2 根根 4 4 芯多模光纤熔接质量测试记录芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目敷设的 2 根 4 芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 7 层通信配线间，对本项目敷设的 4 芯多模光纤进行反向测试；多模光缆 1 测试结果如下：测试地点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信

17、配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点损层熔接点损 耗耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗是否合格是否合格1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：多模光缆 2 测试结果如下：测试地

18、点：测试地点：1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗7 7 层熔接点损层熔接点损 耗耗1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗是否合格是否合格1.每个熔接点损耗0.3dB是 否2.每个熔接点损耗0.3dB是 否3.每个熔接点损耗0.3dB是 否4.每个熔接点损耗0.3dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单

19、位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：4 4、西直门西直门 8 8 层层 MLCMLC 通信设备与京投大厦西辅楼一层通信设备与京投大厦西辅楼一层 MLCMLC 通信设备之间的链路衰减通信设备之间的链路衰减在西直门 8 层 MLC 机房，对本项目南环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点： 西直门西直门 8 8 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点： 京投大厦西辅楼京投大厦西辅楼 1 1 层层双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测

20、试平均值）链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗是否合格是否合格1.链路损耗25dB是 否2.链路损耗25dB是 否3.链路损耗25dB是 否4.链路损耗25dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：5 5、西直门西直门 8 8 层层 MLCMLC 通信设备与京投大厦东辅楼三层通信设备与京投大厦东辅楼三层 TCCTCC 机房机房 MLCMLC 通信设备之间的链路衰减通信设备之间的链路衰减在西直门 8 层 MLC 机房，对本项目北环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC 通信设备，对本项目的北环光纤

21、进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点： 西直门西直门 8 8 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点： 京投大厦东辅楼京投大厦东辅楼 3 3 层层双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗是否合格是否合格13.链路损耗25dB是 否14.链路损耗25dB是 否15.链路损耗25dB是 否16.链路损耗25dB是 否测试结论：测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：6 6、京投大厦西辅楼一层京投大厦西辅楼一层 MLCMLC 通信设备

22、与京投大厦东辅楼三层通信设备与京投大厦东辅楼三层 TCCTCC 机房机房 MLCMLC 通信设备之间的链路衰减通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层 MLC 机房，对本项目新增的 1 根 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层 TCC 机房的 MLC 通信设备，对本项目的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：测试地点：测试地点： 京投大厦西辅楼京投大厦西辅楼 1 1 层层 MLCMLC 机房机房测试地点：测试地点： 京投大厦东辅楼京投大厦东辅楼 3 3 层层双向测试取平均值双向测试取平均值光纤光纤 芯数芯数合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值）链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗是否合格是否合格1.链路损耗15dB是 否2.链路损耗15dB是 否3.链路损耗15dB是 否4.链路损耗15dB是 否测试结论：通过 不通过施工单位（签字）： 监理单位（签字）：日 期： 日 期：