超声波检测方法分类与特点.pptx

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1、概 述1、按原理分类：UT脉冲反射法衍射时差法（TOFD）穿透法共振法第1页/共125页概 述2按显示方式分类：UTA型显示超声成像显示B型显示C型显示D型显示S型显示P型显示第2页/共125页概 述3按波型分类：UT纵波法横波法表面波法板波法爬波法第3页/共125页概 述4、按探头数目分类：UT单探头法双探头法多探头法第4页/共125页概 述5、按探头与试件的接触方式分类：UT接触法液浸法电磁耦合法第5页/共125页概 述6、按人工干预的程度分类：UT手工检测自动检测第6页/共125页概 述每一个具体的超声检测方法都是上述不同分类方式的一种组合，如最常用的：单探头横波脉冲反射接触法（A型显示

2、）。每一种检测方法都有其特点和局限性，针对每一检测对象所采用的不同的检测方法，是根据检测目的及被检工件的形状尺寸、材质等特征来进行选择的。第7页/共125页5.1 按原理分类的超声检测方法超声检测方法按原理分类，可分为脉冲反射法、衍射时差法、穿透法和共振法。第8页/共125页5.1.1 脉冲反射法超声波探头发射脉冲波到被检工件内，通过观察来自内部缺陷或工件底面反射波的情况来对试件进行检测的方法，称为脉冲反射法。第9页/共125页脉冲反射法缺陷回波法底波高度法多次底波法第10页/共125页第11页/共125页第12页/共125页第13页/共125页5.1.2 衍射时差法1.定义：TimeOfFl

3、ightDiffraction衍射时差法超声检测TOFD(time of flight diffraction)超声波衍射时差法,是采用一发一收两只探头,利用缺陷端点处的衍射信号探测和测定缺陷尺寸的一种自动超声检测方法TOFD基本结构：一发一收双探头,宽角度纵波斜探头（通常）第14页/共125页第15页/共125页第16页/共125页第17页/共125页第18页/共125页第19页/共125页第20页/共125页第21页/共125页第22页/共125页2、TOFD检测设备举例第23页/共125页第24页/共125页设备参数：外形尺寸：45cm30cm22cm最大重量：12.8公斤脉冲输出：50

4、V300V，1V步进；系统带宽：（0.525）MHz；脉冲发射/接收器数量：16；增益范围：（070）dB，每步0.1dB；检波方式：全波，正半波，负半波，射频；脉冲重复频率：20KHz可调；检测模式：PE、PC、TT、TOFD；编码器：2个正交编码器或数字输入；记录方式：时间，连续，位置或外部；实时平均次数：116高通滤波器：无，1,2,5,10MHz;A扫查长度：328092点第25页/共125页第26页/共125页3、TOFD检测显示示例第27页/共125页第28页/共125页第29页/共125页第30页/共125页4、物理基础衍射第31页/共125页5.1.3穿透法穿透法是采用一发一收

5、双探头分别放置在试件相对的两端面，依据脉冲波或连续波穿透试件之后的能量变化来检测试件缺陷的方法第32页/共125页特点：一收一发，超声波通过检测区域，指示透过声波幅度。应用：复合材料；非金属材料；粗晶材料；粘接或焊接质量。发展：早期采用单频连续波；脉冲波；调制脉冲波。被脉冲回波检测仪取代。第33页/共125页第34页/共125页第35页/共125页5.1.4共振法依据试件的共振特性来判断缺陷情况和工件厚度变化情况的方法称为共振法。常用于试件测厚。共振法测厚的原理见4.1.6，目前已很少使用共振法测厚。第36页/共125页第37页/共125页特点：连续波工作，自收自发，超声波和工件相互作用，指示

6、振荡峰值频率或自振频率计数。应用：复合材料结构；非金属材料粘接；厚度测量。发展：仪器扫频；系统自振。第38页/共125页5.2 A型显示和超声成像5.2A型显示和超声成像按超声信号的显示方式，可将超声检测方法分为A型显示和超声成像方法，其中超声成像显示按成像方式的不同又可再分为B、C、D、S、P型显示等。第39页/共125页5.1.1 A型显示A型显示是一种波形显示，是将超声信号的幅度与传播时间的关系以直角坐标的形式显示出来，横坐标代表声波的传播时间，纵坐标代表信号幅度。A型显示是最基本的一种信号显示方式。此时，示波管的电子束是振幅调制的。换言之，A型显示的内容是探头驻留在工件上某一点时，沿声

7、束传播方向的回波振幅分布。结合脉冲放射法的A型显示超声检测是目前用的最多的一种方法，目前特种设备行业常用的JB/T4730.32005标准规定的就是A型脉冲反射法超声检测，采用该方法时，检测结果受检测人员的素质、经验等人为因素影响较大。第40页/共125页特点：自收自发或一发一收，显示测量接收脉冲信号的传输时间和幅度。应用：一般金属，非金属的无损检测。模拟A扫显示；传输延时比例；回波幅度比较数字化A扫显示；参数化控制和读数第41页/共125页A型显示（幅度-时间曲线记录）第42页/共125页5.1.2 超声成像方法超声成像就是用超声波获得物体可见图像的方法。由于声波可以穿透很多不透光的物体，故

8、利用声波可以获得这些物体内部结构声学特性的信息，超声成像技术将这些信息变成人眼可见的图像，即可以获得不透光物体内部声学特性分布的图像。物体的超声图像可提供直观和大量的信息，直接显示物体内部情况，且可靠性、复现性高，可以对缺陷进行定量动态监控。一般而言，超声成像方法是基于A型显示形成的工件不同截面的图像显示，大都具有自动数据采集、自动数据处理和自动作出评价的功能。第43页/共125页超声成像方法发展到现代，主要采用扫描接收信号、再进行图像重构的方式，因此又称为超声扫描成像技术，起初主要为B、C扫描成像，随后为检测焊缝而开发出D、P扫描（投影扫描成像）；因为相控阵技术的出现，又出现S扫描（扇形扫描

9、成像）等。而对应的，A型显示又可称为A扫描显示。第44页/共125页探头扫查位置相关的图象显示（B扫描成像，C扫描成像，D扫描成像，P扫描成像，TOFD扫查成像，合成孔径聚焦技术（SAFT），波峰延时定位技术（ALOK）阵元探头相位控制，合成声束技术（移动，转角，聚焦，采样相控阵技术（SAMPLINGPHASEDARRAY）第45页/共125页1.B、C、D扫描成像第46页/共125页扇形B扫描线形B扫描组合B扫描第47页/共125页B型显示（亮度-时间扫查记录）第48页/共125页B型显示(斜探头PE平行扫查)第49页/共125页B型显示(TOFD非平行扫查)第50页/共125页相控阵线扫和

10、扇扫的B扫描成像第51页/共125页第52页/共125页第53页/共125页第54页/共125页第55页/共125页B型显示(TOFD平行扫查)第56页/共125页C型显示（）第57页/共125页第58页/共125页D扫显示第59页/共125页2.P扫描成像P扫描是“投影成像扫描”的简称，是专为检测焊缝而开发的，其工作原理如图516所示。两个斜探头位于焊缝两侧并按事先规划好的方式扫查，扫查可手动或自动。测到的声波以1dB甚至更小的精度记录于硬盘上，然后，将测得的结果送入P扫描处理器，它以声线理论为基础进行计算，并将计算结果以两个投影图的方式显示：一个是俯视图，投影面平行于表面；另一个是侧视图，

11、投影面平行于焊缝，且垂直于表面。第60页/共125页第61页/共125页P扫描实际上是一种同时显示C扫描图像（侧视）和D扫描图像（侧视）的商品化成像系统第62页/共125页 3.ALOK超声成像ALOK（德文）是“振幅一传播时间一位置曲线”的缩写，其成像基本原理如图5-17所示。在采集数据时不加时间闸门，测量系统记下探头在各测量点Pi得到的回波串中所有的正峰值及其出现的时间。ALOK允许32个不同的探头同时在线收集数据。成像和数据分析事后在计算机上进行。根据几何声学原理，回波的传播时间rk在重构空间中确定了圆心在测量点P。半径rikCik/V的一条圆弧。许多圆弧的交点就是重构出的缺陷的像点，回

12、波振幅用来对重建图像作修正。振幅修正后可提高信噪比约20dB。第63页/共125页第64页/共125页ALOK成像系统已试用于核电站作役前和在役超声检测。它是目前获得实际应用的少数高级成像系统之一。第65页/共125页4 相控阵和S扫描成像超声相控阵技术是借鉴相控阵雷达技术的原理而发展起来的。超声检测中，往往要进行声束扫描。常用的快速扫描方式有机械扫描和电子扫描。机械扫描又分为线扫描、扇形扫描、弧形扫描和圆周扫描等几种形式，而电子扫描则也有线形和扇形扫描两种形式。相控阵成像是通过控制换能器阵列中各阵元激励（或接收）脉冲的时间延迟，改变由各阵元发射（或接收）声波到达（或来自）物体内某点时的相位关

13、系，就可实现聚焦点和声束方位的变化，从而可进行扫描成像。第66页/共125页相控阵探头的特点：压电晶片不再是一个整体，而是由多个独立小晶片单元组成的阵列，常见的有直线排列的线阵、环形排列的面阵探头等，如图5-18所示。相控阵仪器：与探头阵列相对应，仪器中用于发射和接收信号的电路是多通道的，每一个通道接一个阵元。根据所需发射的声束特征，由仪器软件计算各通道的相位（延迟）关系，并控制发射接收移相控制器，从而形成所需的声束和接收信号。第67页/共125页第68页/共125页相控阵声束偏转和声束聚焦的原理：为了实现声束的偏转，相当于要使波阵面以一定的角度倾斜，也就是说，要使各阵元发出的声波在与探头成一

14、定角度的平面上具有相同的相位，如图5-19所示。这时，需要使各单元的激励脉冲从左到右等间隔增加延迟时间，使得合成波阵面具有一个倾角，实现了声束方向的偏转。通过改变延时间隔，可以调整声束角度。第69页/共125页第70页/共125页第71页/共125页相控阵可实现多种扫描成像方式，如前所述的B、C、D扫描成像，较为特殊的是还可形成S扫描成像，即在某入射点形成一定角度的扇形扫查范围，又称扇形扫描成像，如图5-21所示。第72页/共125页超声相控阵技术的优势在于：(1)由于可采用电子控制方法控制声束进行扫查，可在不移动或少移动探头的情况下进行快速线扫查或扇形扫查，从而大大提高了检测效率。(2)由于

15、可对声束角度进行控制，具有良好的声束可达性，通过多个检测角度的设定，可以进行复杂形状和在役零件的检测。如核反应堆压力容器管嘴和其他接头、摩擦焊发动机组件、发动机盘件及叶片的根部和叶盘结合部的检测。(3)通过动态控制声束的偏转和聚焦，可以实现焦点位置的动态控制，避免了普通聚焦探头为实现全深度聚焦检测而对不同深度范围频繁更换探头的麻烦。第73页/共125页英国TDFOCUS-SCAN多功能超声相控阵探伤仪一、TDFOCUS-SCAN超声相控阵主机1、硬件规格128/64/16128晶片/64有源/16常规晶片数量128个晶片+16个常规晶片激活通道数量可达64个动态深度聚焦是第74页/共125页第

16、75页/共125页第76页/共125页第77页/共125页第78页/共125页管道腐蚀成像三视图检测第79页/共125页第80页/共125页第81页/共125页第82页/共125页5.3 按波型分类的超声检测方法纵波法、横波法、表面波法、板波法、爬波法等5.3.1纵波法使用纵波进行检测的方法，称为纵波法。在同一介质中传播时，纵波速度大于其他波型的速度，穿透能力强，对晶界反射或散射的敏感性不高，所以可检测工件的厚度是所有波型中最大的，而且可用于粗晶材料的检测。第83页/共125页 1纵波直探头法使用纵波直探头进行检测的方法，称为纵波直探头法。波束垂直入射至工件检测面，以不变的波型和方向透人工件，

17、所以又称垂直入射法，简称垂直法，如图5-22所示。第84页/共125页第85页/共125页垂直法分为单晶直探头脉冲反射法、双晶直探头脉冲反射法和穿透法。常用的是单、双晶直探头脉冲反射法。单直探头，由于远场区接近于按简化模型进行理论推导的结果，可用当量法对缺陷进行评定；同时由于盲区和分辨力的限制，只能发现工件内部离检测面一定距离以外的缺陷。双晶直探头利用两个晶片一发一收，很大程度上克服了单直探头盲区的影响，因此适用于检测近表面缺陷和薄壁工件。第86页/共125页垂直法主要用于铸造、锻压、轧材及其制品的检测，该法对于与检测面平行的缺陷检出效果最佳。由于垂直法检测时，波型和传播方向不变，所以缺陷定位

18、比较方便。第87页/共125页2纵波斜探头法将纵波倾斜入射至工件检测面，利用折射纵波进行检测的方法，称为纵波斜探头法。此时，入射角小于第一临界角a一，工件中既有纵波也有横波，由于纵波传播速度快，几乎是横波的两倍，因此可利用纵波来识别缺陷和定量，但注意不要与横波信号混淆。小角度纵波斜探头：探头移动范围较小、检测范围较深的一些部件，如从螺栓端部检测螺栓，多层包扎设备的环焊缝等。粗晶材料，如奥氏体不锈钢焊接接头的检测。TOFD检测技术使用的探头一般也为纵波斜探头。第88页/共125页5.3.2横波法将纵波倾斜入射至工件检测面，利用波型转换得到横波进行检测的方法，称为横波法。由于入射声束与检测面成一定

19、夹角，所以又称斜射法。斜射声束的产生通常有两种方式：接触法时采用斜探头，由晶片发出的纵波通过一定倾角的斜楔到达接触面，在界面处发生波型转换，在工件中产生折射后的斜射横波声束；利用水浸直探头，在水中改变声束入射到检测面时的入射角，从而在工件中产生所需波型和角度的折射波。第89页/共125页第90页/共125页横波法主要用于焊接接头和管材的检测，是目前特种设备行业中应用最多的一种方法。检测其他工件时，则作为一种有效的辅助手段，用以发现与检测面有一定倾角的缺陷。第91页/共125页5.3.3表面波检测使用表面波进行检测的方法，称为表面波法。对于近表面缺陷的检测，表面波是有效的检测方法。第92页/共1

20、25页第93页/共125页(1)一部分声波在裂纹开口处仍以表面波的型式被反射，并沿物体表面返回。(2)一部分声波仍以表面波的形式沿裂纹表面继续向前传播，传播到裂纹顶端时，部分声波被反射而返回，部分声波继续以表面波的形式沿裂纹表面向前传播。(3)一部分声波在表面转折处或裂纹顶端转变为变形纵波和变形横波，在物体内部传播。在表面波检测中，主要利用表面波的上述特性来检测表面和近表面裂纹。第94页/共125页影响表面波传播的其他因素油表面光洁度和材料组织圆柱曲面第95页/共125页5.3.4板波检测使用板波进行检测的方法，称为板波法。主要用于薄板、薄壁管等形状简单的工件检测。第96页/共125页第97页

21、/共125页1板波的种类板波充塞于整个试件，可以发现内部的和表面的缺陷。但是检出灵敏度除取决于仪器工作条件外，还取决于波的形式。第98页/共125页p根据质点振动情况分类:质点振动方向与表面平行的横波（简称SH波）射向边界面时，反射波仍然是SH波。SH波如果射向薄板，就在薄板中产生SH型板波，如图5-40a所示。如在板中传播的波中既有振动方向与板面垂直的横波（简称SV波），又含有振动方向与板面平行的纵波（简称P波）时，这种板波叫做兰姆波。第99页/共125页p根据边界条件分类:第100页/共125页p根据板的变形分类第101页/共125页2.兰姆波的产生选择不同的板波型式是靠选择探头入射角来实

22、现的，这可以比较直观地用图5-42所示来解释。为了获得比较强的板波，总是希望外力的节奏与板中振动合拍，即共振。第102页/共125页2.兰姆波的传播特点（1）衰减的非单调变化（2）反射时兰姆波波型的变化（3）板波回波信号的宽度第103页/共125页3.板波检测的一般程序a、尽可能选用宽的发射脉冲b、制作一个与被测板材料相同的对比试块c、选择合适的波型根据波型、频率乘板厚的数值，从相应的图中查得入射角d、根据入射角选择合适的探头，在试块上调整扫描速度e、根据人工缺陷的反射，选择合适的探测灵敏度f、检测时注意点第104页/共125页5.3.5爬波法当纵波从第一种介质以第一临界角附近的角度（30。以

23、内）入射于第二种介质时，在第二种介质中不但存在表面纵波，而且还存在斜射横波，如图5-47所示。通常把横波的波前称为头波，把沿介质表面下一定距离处在横波和表面纵波之间传播的峰值波称为纵向头波或爬波。第105页/共125页第106页/共125页5.4 按探头数目分类的检测方法5.4.1单探头法使用一个探头兼作发射和接收超声波的检测方法称为单探头法。对于与波束轴线垂直的片状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好。与波束轴线平行的片状缺陷难以检出。当缺陷与波束轴线倾斜时，则根据倾斜角度的大小，能够收到部分回波或者因反射波束全部反射在探头之外而无法检出。第107页/共125页5.4.2 双探头法使用两个探头（一

24、个发射，一个接收）进行检测的方法称为双探头法。主要用于发现单探头法难以检出的缺陷。双探头法又可根据两个探头排列方式和工作方式进一步分为并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等。第108页/共125页第109页/共125页5.4.3 多探头法使用两个以上的探头组合在一起进行检测的方法，称为多探头法。多探头法的应用，主要是通过增加声束来提高检测速度或发现各种取向的缺陷。通常与多通道仪器和自动扫查装置配合第110页/共125页第111页/共125页5.5 按探头接触方式分类的检测方法接触法、液浸法和电磁耦合法。5.5.1 接触法和液浸法探头与试件探测面之间，涂有很薄的耦合剂层，因此可以看作为

25、两者直接接触，这种检测方法称为直接接触法，或简称接触法。将探头和工件浸于液体中以液体作耦合剂进行检测的方法，称为液浸法。耦合剂可以是水，也可以是油。当以水为耦合剂时，称为水浸法。液浸法检测，探头不直接接触试件，所以此方法适用于表面粗糙的试件，探头也不易磨损，耦合稳定，探测结果重复性好，便于实现自动化检测。第112页/共125页5.5.1 接触法和液浸法接触法和液浸法特点比较：（1）接触法优点：（2）接触法缺点：（3）液浸法优点：（4）液浸法缺点：在实际检测时，应根据应用的对象、目的和场合，结合两种方法的优缺点综合选择。第113页/共125页 液浸分类：分为全浸没式和局部浸没式。(1)全浸没式被

26、检工件全部浸没于液体之中，适用于体积不大，形状简单的工件检测，如图5-51a所示。(2)局部浸没式把被检工件的一部分浸没在水中或被检工件与探头之间保持一定的水层而进行检测的方法，适用于大体积工件的检测。局部浸没法又分为喷液式、通水式和满溢式。第114页/共125页1)喷液式超声波通过以一定压力喷射至检测表面的水柱耦合方式，如图5-51b所示。2)通水式借助于一个专用的有进水、出水口的液罩，使液罩内经常保持一定容量的液体，这种方法称为通水式，如图5-51c所示。3)满溢式满溢式液罩结构与通水式相似，但只有进水口，多余液体从罩的上部溢出，这种方法称为满溢式，如图5-51d所示。根据探头与工件检测面

27、之间液层的厚度，液浸法又可分为高液层法和低液层法。第115页/共125页1 接触法和液浸法特点比较(1)接触法优点 多为手工检测，操作方便；设备简单，适用于现场检测，且成本较低；直接耦合，入射声能损失小，可以提供较大的厚度穿透能力；在相同的检测参数下，可比液浸法提供更高的检测灵敏度。(2)接触法缺点 手工操作受人为因素影响较大，耦合不易稳定；要求被检表面的粗糙度较小。(3)液浸法优点 探头与被检工件不接触，超声波的发射和接收均较稳定，表面粗糙度的影响较小；通过调节探头角度，可方便的改变探头发射的声束方向；可缩小检测盲区，从而可检测较薄的工件；探头不直接接触工件，探头损坏的可能性小，探头寿命长；

28、便于实现聚焦声束检测，满足高灵敏度、高分辨率检测的需要；便于实现自动检测，减少影响检测可靠性的人为因素。(4)液浸法缺点 超声波在液体和金属表面的反射，损失了大量能量，需采用较高的增益。当检测高衰减材料或大厚度材料时，可能没有足够的能量。在较高增益下，还可能出现噪声干扰。在实际检测时，应根据应用的对象、目的和场合，结合两种方法的优缺点综合选择。第116页/共125页第117页/共125页5.5.2 电磁耦合法采用电磁超声探头激发和接收超声波的检测方法，通常称为电磁超声检测（EMAT）。探头与工件之间无耦合剂，也不相互接触。电磁超声探头结构及工作原理见第118页/共125页第119页/共125页

29、1、电磁超声产生的机理2、电磁超声激发和接收3、电磁超声的特点和现状第120页/共125页5.6 手工检测和自动检测按人工干预的程度分类，超声检测可分为手工检测和自动检测。5.6.1 手工检测手工检测一般指由操作者手持探头进行的A型脉冲反射式超声检测。手工检测方便易操作，大量应用，JB/T4730.3-2005主要的适用范围即为手工检测。检测结果受操作者的人为因素影响是较大的检测过程中的超声信号无法连续记录检测结果的可靠性、复现性难以保证。第121页/共125页5.6.2 自动检测自动检测指使用自动化超声检测设备，在最少的人工干预下进行并完成检测的全部过程。一般指采用自动扫查装置，或在检测过程

30、中可自动记录声束位置信息、自动采集和记录数据的检测方式。在自动检测中，检测结果受人为因素影响较小。第122页/共125页若满足如下任何一个条件，可称为自动检测：1）采用自动扫查装置。探头固定于机械扫查装置上，扫查装置或工件按照设定的方式运动，从而完成超声检测全过程。2）自动记录声束位置信息、自动采集和记录数据。为跟踪和记录探头位置，自动超声设备必须配备位置传感器，一般采用编码器或声定位技术，但相控阵方法是个例外，因为相控阵可以采用电子扫描以替代机械扫描。在扫查过程中，自动超声设备应能够自动采集超声信号以及相对应的位置信息，并以不可更改的方式记录下来。一般也使用扫查装置，按照驱动扫查装置的动力而言，可分为马达驱动和人驱动。若采用马达驱动，称为全自动；若采用人驱动，则称为半自动。全自动和半自动均简称为自动检测。第123页/共125页其他超声波检测方法和设备全息检测（UHOLOGRAPH）超声波层析成像技术（UCT）超声显微镜（SAM）原子力超声显微镜（AFAM）第124页/共125页感谢您的观看！第125页/共125页