TZSA 13-2021 Mini-LED背光组件通用技术规范.docx

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1、ICS 31.120CCS L 53准T/ZSA 13-2021Mmi-LED背光组件通用技术规范General specification of Mini-LED backlight units2021 -04-01 实施2021 -03 - 31 发布中关村标准化协会A级B级C级max (|1000*Ax|, |1000*Ay|) 44max (|1000*Ax|, llOOO*Ayl) 55max (|1000*Ax|, |1000*Ay|) 65.6.9区间亮度均匀性按中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的区间亮度均匀性应符合表12的规定。表12区间亮度均匀性分级要求芯片

2、间距 mmA级B级C级2.4 2.83.6%3.6%4.3%4.3% 10.0%4.0%4.0% 4.7%4.7%-10.0%7.6 7.8F28F/ 240/K225Kx （ 9）式中：i0, 1, 2, 3, ,.（2n-2）, n 为 bit 数；x相邻解析度亮度差的阈值，该值由客户和制造商协商确定。d）如下公式计算调光解析度：= （1）6.6.10 调光频率6.6.10.1 测试目的测试PWM/PAM背光组件的调光频率。6.6.10.2 测试要求测试设备与测试画面及位置的要求如下：a）测试设备测试设备如下：示波器；驱动电源；驱动信号设备。b）测试画面测试画面采用全白画面，测试位置为背光

3、组件中心点。6.6.10.3 测试步骤测试方法按下列步骤：a）将组件放置于规定的标准测试条件中，将示波器探头连接背光组件LED驱动器件的输 出电路；b）用示波器测试每个背光组件的调光频率人6.6.11 发光效能6.6.11.1 测试目的测试背光组件的发光效能。6.6.11.2 测试要求测试设备与测试画面及位置的要求如下：a）测试设备测试设备如下：LMD； 驱动电源； 驱动信号设备； 示波器； 万用表。b）测试画面测试画面全白画面，测试位置为背光组件中心点。6.6.11.3 测试步骤将组件放置于6.LL1规定的标准测试条件中，用LMD测量组件亮度L用万用表测量电压U,用示 波器电流探头测量电流/

4、;如下式计算发光效能K：长=坐上（11）P前 言III1范围12规范性引用文件13术语、定义和缩略语13.1 术语和定义13.2 缩略语24分类24.1 按驱动背板分类 24.2 按光源发光颜色分类34.3 按控制方式分类 35要求35.1 元器件35.2结构35.3 物理尺寸35.4 外观质量45.5 显示质量45.6 光电特性45.7 机械性能65.8 环境适应性75.9 静电放电(ESD) 85.10 标志耐久性86检验和试验方法96.1 试验条件96.2 结构106.3 物理尺寸106.4 外观质量106.5 显示质量106.6 光电特性106.7 机械性能166.8 环境适应性166

5、.9 静电放电(ESD)试验176.10 标志耐久性177检验规则171.1 检验分类17U检验批规则171.3 鉴定检验171.4 交收检验181.5 包装检验188包装、运输和储存 198 . 1包装199 .2运输19式中：S一背光组件的面积，单位为m2；L背光组件亮度，单位为cd/n?；P背光组件功耗，单位为W；K一背光组件的发光效能，单位为cd/Wo6.7 机械性能6.7.1 随机振动振动试验应按照GB/T 4857.232012的规定进行，试验严酷等级按571的规定，试验后检测组件的外 观质量、光学特性和电特性。6.7.2 包装跌落跌落试验应按照GB/T4857.51992规定进行

6、，试验后检测组件的外观质量、光学特性和电特性。6.8 环境适应性6.8.1 高温贮存高温贮存试验应按照GB/T 2423.22008的规定进行。试验严酷等级按的规定，恢复时间为2h, 试验后的检测应按581的规定。6.8.2 低温贮存低温贮存试验应按照GB/T2423.12008的规定进行。试验严酷等级按582的规定，恢复时间为2h, 试验后的检测应按的规定。6.8.3 高温高湿贮存高温高湿贮存试验应按照GB/T 2423.32016的规定进行。试验严酷等级按的规定，恢复时间 为2h,试验后的检测应按的规定。6.8.4 温度冲击温度冲击试验应按照GB/T 2423.222012的规定进行。试验

7、严酷等级按584的规定，恢复时间为2h, 试验后的检测应按的规定。6.8.5 高温工作高温工作试验应按照GB/T 2423.22008的规定进行。试验严酷等级按585的规定，恢复时间为2h, 试验后的检测应按的规定。6.8.6 低温工作低温工作试验应按照GB/T 2423.12008的规定进行。试验严酷等级按的规定，恢复时间为2h, 试验后的检测应按的规定。6.8.7 高温高湿工作高温高湿工作试验应按照GB/T 2423.32016的规定进行。试验严酷等级按的规定，恢复时间 为2h,试验后的检测应按的规定。6.9 静电放电（ESD）试验ESD试验应按照GB/T 17626.22018的规定进行

8、，试验严酷等级按5.9的规定，试验后的检测应按5.9 的规定。6.10 标志耐久性标志耐久性试验应按照GB/T 2423.302013的规定进行，试验严酷等级按5.10的规定,试验后的检 测应按5.10的规定。7检验规则7.1 检验分类本部分规定的检验分类如下：a）鉴定检验；b）交收检验。7.2 检验批规则除另有规定外，一个检验批可由符合下列条件的一个或几个背光组件的生产批组成：a）采用相同的材料、相同的工艺和相同的设备生产的组件；b）生产批间隔的时间最长不能超过一个月。7.3 鉴定检验7.3.1 鉴定检验项目Mini-LED背光组件鉴定检验项目按表19规定进行。表19鉴定检验序号检验项目要求

9、章条号检验方法章条号1结构5.26.22物理尺寸5.36.33外观质量5.46.44显示质量5.56.55光电特性5.66.66机械性能5.76.77环境适应性5.86.88ESD5.96.99标志耐久性5.106.107.3.2 抽样方案首次评价样品不低于30套。7.3.3 不合格如果出现一次致命缺陷或二次及以上的非致命缺陷时，则鉴定检验不合格。注：致命缺陷包括有可能造成顾客生命财产安全的缺陷和环境适应性缺陷。7.3.4 鉴定批准制造商应按本部分规定的检验要求进行鉴定检验。样品可由结构相似的模块组成。应规定试验结束 后 进行终点测试的所有变化量要求，应记录变化量数据。鉴定报告应包括一份各组所

10、进行的所有试验结果的摘要，包括被试模块数和失效模块数。摘要由变 化 量和/或计数数据给出。应保留所有数据，以便相关监督检验机构要求时提供。7.4 交收检验7.4.1 交收检验项目交收检验为逐批进行，交收检验项目除了按表19的规定外，还应该按照表20进行测试，测试方法参 考 第6章。表20交收检验序号检验项目要求章条号检验方法章条号1外观质量5.46.42显示质量5.56.53分区密度依据产品规格书执行4峰值亮度5亮度均匀性6色品坐标7色度均匀性8边缘视效9光晕10区间色度均匀性11区间亮度均匀性7.4.2 抽样方案按照GB/T 2828.12012正常检验方案，检验水平为n, AQL=1.5o

11、7.4.3 重新提交当交收检验不合格时，允许经修复后进行第一次重新提交，抽样方案不变，但不允许出现任何缺陷，否则判第一次重新提交检验为不合格。如果第二次重新提交仍不合格则拒收。7.5 包装检验7.5.1 通则在对组件进行鉴定检验的同时，应按本部分的规定进行包装检验。7.5.2 跌落在对组件进行鉴定检验的同时，应对带组件的包装进行跌落试验。试验要求按572的规定，试验方 法 按672的规定。8包装、运输和储存8.1 包装8.1.1 包装标志除另有规定外，组件包装上至少应有下列标志：a）组件名称或产品型号；b）制造商名称或商标；c）额定电压和工作频率；d）执行的产品标准号；e）产品数量。8.1.2

12、 包装要求用专用的包装盒/箱包装，应有防潮、防震的措施，包装内应有检验合格证、产品说明书等文件。 包装箱图形标志应符合GB/T 1912008的相关规定。8.2 运输组件在运输过程中应避免雨、雪淋袭和强烈的机械撞击。装有组件的包装箱在运输过程中堆放最高 应 不超过四层。8.3 储存组件应储存在温度范围为1030和相对湿度不大于85%的通风良好、无腐蚀性气体的环境中。 装有组件的包装箱在储存时堆放最高应不超过四层。8. 3储存19图1测试装置布局9图2边缘视效测试画面及测试位置示例11图3光晕测试画面及测试位置示意图 12表1主要元器件技术要求3表2外观质量要求4表3显示质量要求4表4分区密度分

13、级要求4表5峰值亮度分级要求4表6亮度均匀性分级要求5表7色品坐标分级要求5表8色度均匀性分级要求5表9边缘视效分级要求5表10光晕分级要求5表11区间色度均匀性分级要求 5表12区间亮度均匀性分级要求6表13调光解析度分级要求6表14调光频率分级要求6表15发光效能要求6表16随机振动试验要求7表17跌落试验要求7表18ESD要求8表19鉴定检验17表20交收检验18本文件按照GB/T 1.12020标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定 起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。中关村标准化协会不承担识别这些专利的责任。本文件由中关村标准化协会技术委员会提出并归口。本文

14、件起草单位：京东方科技集团股份有限公司、中关村半导体照明工程研发及产业联盟、利亚德 光电股份有限公司、良业科技集团股份有限公司、北京智创华科半导体研究院有限公司、北京小米移动 软件 有限公司、联想（北京）有限公司、杭州远方光电信息股份有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、上 海三思电子工程有限公司、三安光电股份有限公司、深圳市洲明科技股份有限公司、江苏明纳半 导体科技有限 公司、深圳市隆利科技股份有限公司、广州市鸿利显示电子有限公司、江西联创致光科技 有限公司、合肥福映 光电有限公司、翰博高新材料（合肥）股份有限公司、利晶微电子技术（江苏）有 限公司。本文件主要起草人：孙海威、王宇、阮军、徐浩

15、、周昊、李颖祎、李东磊、张志刚、李佳昕、张亚 莉、 余鸿昊、朱小伟、刘辉、尹凯民、卢长军、黄立元、马莉、白建军、刘莉、刘志勇、梁辉妙、杨东 明、蒋丽 君、唐飞、吴宏涛、曹峻松、逢悦、余湛、于磊、苏跃峰、宋立、袁毅凯、李宗涛、陈磊、蔡 伟智、张金刚、 张世诚、白莹杰、魏伟、彭益、陈永铭、卢文勇、刘训良、驻孟儒、潘彤。Mmi-LED背光组件通用技术规范1范围本文件规定了Mini-LED背光组件（以下简称“组件”）的术语和定义、分类、要求、检验和试验方 法、检验规则，以及标志、包装、运输和储存。本文件适用于液晶显示用Mini-LED背光组件，是产品设计、生产定型和检验的主要依据。2规范性引用文件下列

16、文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 1912008 包装储运图示标志GB/T 2423.12008GB/T 2423.22008GB/T 2423.32016GB/T 2423.222012GB/T 2423.302013GB/T 2828.12012 划GB/T 4857.51992GB/T 4857.232012GB/T 17626.22018SJ/T 11460.12013电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温电工电子

17、产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化环境试验 第2部分：试验方法 试验XA和导则：在清洗剂中浸渍计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计 包装运输包装件跌落试验方法包装运输包装件基本试验第23部分：随机振动试验方法 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验液晶显示用背光组件 第1部分：总规范液晶显示用背光组件 第6-1部分：测试方法光学与光电参数3术语、定义和缩略语3.1 术语和定义SJ/T 11460.12013界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1.1背光

18、组件 backlight unitRLU用单个或多个发光单元组成，具有特定光学特征，为显示器件提供光源的组合体。来源：SJ/T 11460.12013, 3.1.13.1.2Mini-LED背光组件 Mini-LED backlight unit使用Mini-LED做光源的液晶显示用背光组件。3.1.3静态背光组件 static backlight unit工作状态下，亮度不随着视频信号的变化而变化的背光组件。来源:SJ/T 11460.12013, 3.1.163.1.4动态控制背光组件dynamic backlight unit工作状态下，驱动电路能够使光源亮度随着视频信号的变化而变化的背

19、光组件。动态控制背光组件包括 全屏动态控制背光组件和分区域动态控制背光组件。来源:SJ/T 11460.12013, 3.1.173.1.5全屏动态控制背光组件global dimming backlight unit工作状态下，全屏亮度和/或色度随驱动信号的变化而整体变化的背光组件。来源:SJ/T 11460.12013, 3.1.18,有修改3.1.6分区域动态控制背光组件local dimming backlight unit背光组件在工作时，将有效显示部分划分为若干区域(mxn),各区域的光源亮度和/或色度随相 对应液晶显示器件各区域视频信号的变化而变化的背光组件。来源：SJ/T 11

20、460.12013, 3.1.19,有修改3.1.7分区密度 dimming zones density背光组件单位面积的调光分区数。3.2 缩略语下列缩略语适用于本文件。COF：覆晶薄膜(chip on film)DBEF：反射型偏光增亮膜(dual brightness enhancement film)IC：集成电路(integrated circuit)LED：发光二极管(light emitting diode)LMD：光测量设备(light measuring device)TFT：薄膜晶体管(thin film transistor)PAM：脉冲振幅调制(pulse amplit

21、ude modulation)PCB：印刷电路板(printed circuit board)PCBA： EJ刷电路板组件(printed circuit board assembly)PWM：脉冲宽度调制(pulse width modulation)4分类4.1 按驱动背板分类背光组件按驱动背板的种类可分为下列类型：a）无源矩阵背光组件； b）有源矩阵背光组件等。4.2 按光源发光颜色分类背光组件按其光源发光颜色的不同可分为下列类型：a）单色光背光组件；b）多色光背光组件；c）白光背光组件等。4.3 按控制方式分类背光组件按其亮度和/或色度（仅适用于多色）的控制方式可分为下列类型：a）静态

22、背光组件；b）动态控制背光组件等。动态控制背光组件又可分为全屏动态控制背光组件和分区域动态控制背光组件。5要求 5.1元器件Mini-LED背光组件所用主要元器件的技术要求应符合表1的规定。表1主要元器件技术要求元器件名称主要特性数值单位最小值典型值最大值LED单色中心波长偏差04nm正向电压偏差00.25V波长一致性偏差01.5nm正向电压一致性偏差00.1VLED驱动器件器件类型IC/TFT/其他控流器件调光方式PWM/直流/PAM5.2 结构背光组件的结构如下：a）光源类型、颜色；b）电源驱动方式；c）光学膜片组合；d）接口结构；e）控制方式。5.3 物理尺寸Mini-LED背光组件的物

23、理尺寸应符合产品规格书的规定，至少应包括外形尺寸、有效发光区域尺 寸、安装/装配尺寸。5.4 外观质量除另有规定外，Mini-LED背光组件的外观质量的技术要求应符合表2的规定。表2外观质量要求检验项目缺陷类别判定标准平坦度灯板翘曲平坦度W2 mm灯板拼缝板间拼缝0.9X面内LED间距W拼缝处LED间距Wl.IX面内LED间距胶类不良涂覆精度及涂覆状态异常超出基板边缘、缺胶、气泡、偏位、不匀等依照限度管控元器件不良LED/IC/PCB等贴敷异常破损、变形、错位等依照限度管控LED/IC/PCB等元器件缺失掉件缺失依照限度管控COF不良撕裂、死折、破损限度管控外观脏污锈斑、污斑、油污渍、胶状限度

24、管控5.5 显不质重除另有规定外，Mini-LED背光组件显示质量的技术要求应符合表3的规定。表3显示质量要求检查项目检查对象判定标准画质检查（灭灯、爆灯闪烁、颜色不均、弱亮、 异常显示等）灯板不可有光学检查（色度、亮度、均一性等）背光组件依据产品规格书执行爆灯是指灯不受IC控制，在加电条件保持常亮。5.6 光电特性5.6.1 分区密度Mini-LED背光组件的分区密度应符合表4的规定。表4分区密度分级要求单位为区/m2A级B级C级分区密度225002500分区密度210001000分区密度28005.6.2 峰值亮度按661中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的峰值亮度上应符合

25、表5的规定。表5峰值亮度分级要求Hao XuA级B级C级有 DBEFLN 1820018200L 1300013000L 10400五口I1-0500035000 2500025000 220000单位为Cd/m?无对应的试验方法按662中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的亮度均匀性LU应符合表6的规定。表6亮度均匀性分级要求A级B级C级LU285%85%LU280%80%U275%5.6.4 色品坐标按663中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的色品坐标与设定值偏差应符合表7的规定。表7色品坐标分级要求A级B级C级AW0.02, Ay0.020.02A0.025

26、, 0.02Ay0.0250.025VAW0.03, 0.025A)W0.0U0.008AmV,0.010或 0.0UVAr)W0.0140.010Awv 0.012或 0.014VAr)W0.0165.6.6 边缘视效按665中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的边缘视效应符合表9的规定。表9边缘视效分级要求A级B级C级GW0.008, U260%0.008GU240%00.01或 UV40%5.6.7 光晕按666中描述的试验方法进行试验，搭载Mini-LED背光组件的液晶显示模块光晕应符合表10的规 定。表10光晕分级要求A级B级C级P0.0150.015P0.035.6.8区间色度均匀性按667中描述的试验方法进行试验，Mini-LED背光组件的区间色度均匀性应符合表11的规定。表11区间色度均匀性分级要求