整机可靠性测试规范.docx

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1、整机可靠性测试规范版本2.02011-07-16拟订：郝福亮批准：汪乐辉版本修订状态版本状态日期修订人修订位置和原因1.02011-01-04郝福亮原始版本2.02011-07-16郝福亮修订导线摇摆测试标准一.环境适应性测试测试方法：被测样机不包装，处于插卡通电待机状态，从1.5M高度（LCD 尺寸小于2. 4 ） , （LCD尺寸大于2. 4的机型跌落高度定为1.2M）初始速度为 0自由跌落于大理石地板，6个面跌落，每个面跌落2次，每个面跌落后进行外 观，结构及功能检查。直板及翻盖手机：左侧面，背面，右侧面，底面，顶面，正 面。滑盖手机：底面，顶面，背面，正面，左侧面，右侧面。跌落过程中，

2、对于翻 盖手机,应将一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置；对于滑盖手机， 应将一半样品滑开到上限位置。? 判定标准：通过基本功能，性能测试，无明显裂纹/破损，内部无零 件松动及其他异常测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试测试数量：直板机10PCS 翻/滑盖 12PCS测试流程：1. 1.低温存储（Fuctional Test） 测试环境：-40度 手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖6台） 测试目的：低温应用性功能测试试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于 IC/min的变化速度逐步降温到-40C,温度稳定后持续48小时，取出并放置2小 时恢复至常温。

3、然后进行结构功能和电性能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上 翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置（盒盖为 3PCS,开盖为3PCS,后续环境实验样品数相同）试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手 感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放 功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变 异。注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性 能1.2低温工作 测试环境：-15 手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机再开机 测试目的：低温应用性能测试试验方法：将

4、手机电池充满电，插入SIM卡及T卡，手机处于关机状态， 放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于l/min的变化速度逐步降温到-15 度，温度稳定后手机开始开机工作。在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部 手机进行通话测试，每次通话5分钟（双卡手机需要测试移动、联通两种卡不同组 合状态的通话：移动+移动；联通+移动；联通+联通；开卡1锁卡2,开卡2锁卡 1. PVT 后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包 括手机按键/侧键手感，电池盖拉拔力，滑/翻盖手感，长时间摄像，触摸屏手机还 需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手 机应将一半

5、样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到 上限位置。试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、 滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功 能），外壳无变形。电池没有起鼓、漏液等不良失效现象；试验前/后确认按键导 光效果、LCM显示效果等是否有变异。注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1. 3.高温存储（Fuctional Test） 测试环境:+70 （针对IML工艺,条件：+65度） 手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台） 测试目的：高温应用性功能测试试验方法：不装电池将手机放入温度

6、实验箱内的架子上。按平均值不大于 3/min的变化速度逐步升温到+70,温度稳定后持续48小时之后取出，并放也 2小时恢复至常温，然后进行结构功能和射频性能检查。对于翻盖书记应该将一半 样品合上翻盖，一半样品打开翻盖，对于滑盖手机应该将一半样品滑开到上限位 置。试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、 滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功 能）外壳无变形。实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性 能。1. 4.高温工作（Paramatric Test

7、）测试环境：+55度手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机后开机测试目的：高温应用性性能测试试验方式：将手机电池冲满点，插入SIM卡以及T卡手机处于关机状态， 放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于3C/min的变化速度逐步升温到+55 度，温度稳定后手机开始工作。在此环境下前三个小时，每个小时进行与外部手机 进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机需测试移动、联通两种卡不同组合 状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2,开卡2锁1.PVT 后只做移动+联通（双开）坡后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按 键/侧键手感，滑/翻盖手感，电池盖拉拔力，长时间摄像，

8、触摸屏手机还需要测试 触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机将一半 样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、 滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功 能）可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变 异。注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1.5高温高湿存储： 测试环境：6595%RH （针对IML工艺，条件：55, 95%RH） 手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机 测试目

9、的：测试样机耐高温高湿性能 试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上 持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对 于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样 品滑开到上限位置。 试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手 感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放 功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键 导光效果、LCM显示效果等是否正常。注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性 能。1. 6.恒

10、定湿热（parametric Test） 测试环境：+4095%RH 测试数量：5pcs （翻/滑盖6台） 测试目的：高温高湿性可靠性测试测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架 子上。温度稳定后手机开机工作。在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手 机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种 卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2,开 卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能检查 （包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正 常、带TV功能手机

11、检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻 盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、 滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功 能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验 前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1. 7.温度冲击测试（Thermal Shock） 测试环境：低温箱：-40；高温箱：+70C （1ML工艺为65C） 手机数量及状态：5台

12、（翻/滑盖6台）关机 测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于 高温箱内持续1小时后，在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅 速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱 （高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机将 一半样品打开翻盖。对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常， 功能正常（包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、 带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话；

13、实验前后确认按键导光 效果、LCM显示效果等。二.破坏性测试测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试测试数量：直板44PCS滑盖/翻盖52PCS测试流程：2. 1.翻盖寿命测试 测试环境：室温(20-30) 测试数量及状态：5台 开机 测试目的：翻盖寿命测试 测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次 -25次/分，进行10万次翻盖测试。每2万次检查一次 判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破 损，翻盖时无异响。2.2. 滑盖寿命实验测试环境:室温(20-30)测试数量及状态：5台 开机测试目的：验证壳材料-，FPC,滑轨的寿命以及滑盖组件的结构寿

14、命?测试方法：被测样机不包装，处于通电待机状态，要求滑轨达到最大活动 位置，以2530次/分钟的速度滑动滑盖，来回为一次，试验次数10万次，每2 万次检查一次。判定标准：实验结束后手机外观，结构与功能正常，无明显裂纹及破损， 滑盖时无异响。2.3. 开关机稳定性实验 测试环境:室温(20-30) 测试数量及状态：2台插卡/不插卡 测试目的：验证正常开关机是否有异常 测试方法：在插卡状态下(一台插移动卡，一台插联通卡)按住开机键不 放，手机开机到出现网络运营标志后关机(大约10-55S)然后再开机，重复500 次。然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。最后在取下SIM卡情况下再做 重复开机100次。 判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。允许有 1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效2.4. 自由跌落实验测试环境:室温(20-30)测试数量:直板5PCS,翻/滑盖各6PCS