基于热敏电阻的数字温度计报告.doc

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1、- -信电学院电子信息工程专业CDIO二级工程工程设计说明书2012/2013学年第二学期 工程名称 ： 基于热敏电阻的数字温度计设计 专业班级 ： 小组成员 ： 指导教师 ： 吴开兴 马永强 马小进 会军 设计周数 ：4月8号6月15号 设计成绩 ：2011年6月15日工程分工表：目录1 概述.22总体设计方案2 2.1设计目的.2 2.2设计任务.23系统的硬件设计及实现3 3.1系统各模块介绍3 3.2电路系统设计114系统软件设计.115设计总结.186参考文献.191、概述 随着以知识经济为特征的信息化时代的到来人们对仪器仪表的认识更加深入，温度作为一个重要的物理量，是工业生产过程中

2、最普遍，最重要的工艺参数之一。随着工业的不断开展，对温度的测量的要求也越来越高，而且测量的围也越来越广，对温度的检测技术的要求也越来越高，因此，温度测量及其测量技术的研究也是一个很重要的课题。目前温度计种类繁多，应用围也比拟广泛，大致可以包括以下几种方法：1)利用物体热胀冷缩原理制成的温度计2)利用热电效应技术制成的温度检测元件3)利用热阻效应技术制成的温度计4)利用热辐射原理制成的高温计5)利用声学原理进展温度测量本系统的温度测量采用的就是热阻效应。温度测量模块主要为温度测量电桥，当温度发生变化时，电桥失去平衡，从而在电桥输出端有电压输出，但该电压很小。将输出的微弱电压信号通过OP07放大，

3、将放大后的信号输入AD转换芯片，进展A/D转换后，就可以用单片机进展数据的处理，在显示电路上，就可以将被测温度显示出来。2 总体设计方案2.1 设计目的 通过本次CDIO利用51单片机及热敏电阻设计一个温度采集系统，通过学过的单片机和数字电路及面向对象编程等课程的知识设计。要求的功能是能通过串口将采集的数据在显示窗口显示，采集的温度达一定的精度。2.2 设计任务1、根据技术要求和现有开发环境，分析设计题目2、设计系统实现方案3、设计并绘制电路原理图4、画出功能模块的程序流程图5、使用汇编语言(或C语言)编写实现程序6、结合硬件调试、修改并完善程序；3 系统的硬件设计及实现3.1 系统各模块介绍

4、3.1.1 AT89C52芯片介绍1主要性能 ：与MCS-51单片机产品兼容、8K字节的在系统可编程Flash存储器、一千次的擦写周期、全静态操作：0Hz24MHz、三级加密程序存储器、三十二个可编程I/O口线、三个16位定时器/计数器以及八个中断源、全双工UART串行通道、低功耗空闲和掉电模式、掉电后中断可唤醒、看门狗定时器、双数据指针、掉电标识符。2功能特性：AT89C52是一种低功率消耗、性能较高CMOS8位微控制器，具备8K在系统可编程Flash 存储器。使用Atmel公司高密度非易失性存储器高技术制作，可以与工业80C51产品指令和引脚全部兼容片上。Flash能够允许程序存储器在系统

5、可编程执行，亦适合于常规编程器。在单芯片上，拥有灵巧的8位CPU和在系统可编程Flash，使得AT89C52为众多嵌入式控制应用系统提供高灵活、超有效的解决方案。AT89C52具有以下标准功能：8k字节Flash，256字节RAM，32 位I/O口线，看门狗定时器，2个数据指针，三个16位定时器/计数器，一个6向量2级中断构造，全双工串行口，片晶振及时钟电路。此外，AT89C52 可降低到0Hz静态逻辑操作，支持2种软件可抉择节电模式。空闲模式时，CPU不再工作，却允许RAM、定时器/计数器、串口、中断继续工作。掉电保护方式下，RAM容被保存下来，振荡器被冻结，单片机所有工作都停顿，直到下一个

6、中断开场或者有硬件复位为止。图1-1 AT89C52管脚分布3管脚说明：VCC：供电电压，GND：接地。 P0口：P0口作为一个8位漏级开路双向的I/O口，每脚可以吸纳8TTL门电流。当P1口的管脚第一次写1时，被视为输入高阻。P0可以用于外部程序或者数据存储器，它可以被定义为数据或者地址的第八位。在FIASH编程时，P0 口被视为为原码输入口，当FIASH开场校验时，P0输出原码，此时P0外部一定被拉高。P1口：P1口是部提供的8位上拉电阻的双向I/O口，P1口缓冲器能收到输出4TTL门电流。P1口管脚写入1后，可作为输入，其管脚被部上拉为高电平， P1口被外部下拉为低电平的时候，将输出电流

7、，这是由于部上拉的原因。在FLASH编程和校验时，P1口被认为是第八位地址接收。 P2口：P2口是一个8位部上拉电阻的双向I/O口，P1口缓冲器可收到或者输出4个TTL门电流，当P2口被写“1时，其管脚被部上拉为高电平，且作为输入。作为输入，P2口的管脚将被外部拉低的时侯，将输出电流。这是由于部上拉的原因。P2口在用于外部程序存储器或者是16位地址外部数据存储器进展操作时，P2口输出地址作为高八位。在给出地址“1时，它有部上拉的优点，当对外部八位地址数据存储器进展读写操作时，P2口输出它的特殊功能存放器上的容。P2口在FLASH编程和校验的时候，接收信号作为高八位地址信号和控制信号。P3口：P

8、3口管脚是8个带部上拉电阻的双向I/O口，P3口缓冲器可接收输出4个TTL门电流。当P3口写入“1后，被部上拉为高电平，并且作用于输入。作为输入，因为外部下拉为低电平，P3口将输出电流ILL，这是由于上拉的原因。P3口也可作为AT89C51的一些特殊功能口。P3口管脚备选功能： P3.0 RXD串行输入口P3.1 TXD串行输出口P3.2 /INT0外部中断0P3.3 /INT1外部中断1P3.4 T0记时器0外部输入P3.5 T1记时器1外部输入P3.6 /WR外部数据存储器写选通P3.7 /RD外部数据存储器读选通P3口同时为闪烁编程和编程校验接收一些控制信号。RST：复位输入。当振荡器复

9、位器件时，要保持RST脚两个机器周期的高电平时间。ALE/PROG：当访问外部存储空间时，地址锁存允许的输出电平用于锁存地址的低位字节。在FLASH编程期之中，此引脚作用于输入编程脉冲。在平时，ALE端以一定的频率周期输出正脉冲函数，此频率为振荡器频率的六分之一。因此它可用于对外部输出的脉冲或用于定时作用的目的。然而值得注意的是：每当用作外部数据存储的时候，它将跳过一个ALE脉冲。如想制止ALE的输出可在SFR8EH地址上复位。此时， ALE只是在执行MOVX，MOVC指令是ALE时才能够起作用。此外，该引脚被略微拉高。假设是微处理器在外部执行状态ALE为制止，那么置位无效。PSEN：外部程序

10、存储器的选通信号。在由外部程序存储空间取指期间，每个机器周期是两次PSEN才有效。但在访问外部数据存储器时，这两次有效的PSEN信号都将不能够实现。EA/VPP：当EA保持低电平时，不管是否有部的程序存储空间，那么在此期间外部程序存储空间0000H-FFFFH。注意当加密方式是1时，EA将部定为RESET；当EA端保持高电平时，此间部程序存储空间。在FLASH编程期间，此引脚也可以用作施加12V编程电源。XTAL1：反向振荡放大器的输入及部时钟工作电路的输入。XTAL2：来自反向振荡器的输出。4复位电路：MCS-52单片机复位电路是指单片机的初始化操作。单片机启运开场工作时，都需要先经过复位，

11、其作用是使CPU和系统中其他配置器件处于一个确定的初始状态，并从这个状态开场执行命令。因而，复位是一个非常重要的操作方式。但单片机自己是不能自动执行复位的，必须配合恰当的外部电路才可以实现。复位功能：复位电路的根本功能：系统上电时提供复位功能，一直到系统电源稳定后，去除复位信号。为保险起见，电源稳定后必须经一定的延时才可以撤销复位的信号，以防电源开关或电源插头分-合过程中导致的抖动而对复位功能产生影响。单片机的复位是由外部的复位电路来控制的。片复位电路是通过复位引脚RST复位电路与一个斯密特触发器相连，斯密特触发器用来到达抑制噪声的目的，在每个机器周期它的输出由复位电路采样一次。复位电路通常运

12、用上电自动复位以及按钮复位两种方式。单片机复位后的状态：单片机的复位操作使单片机到达初始化的状态，其中包括使得程序计数器PC0000H，这说明程序从0000H地址开场运行。单片机工作后，片RAM为任意值，运行中的复位操作不会更改片RAM区中的数据，21个特殊功能存放器在复位之后的数据为确定值，见表1。值得注意的是，记住在复位后的一些特殊功能存放器的主要状态，对于理解单片机的初态，减少相关的应用程序中的初始化是非常必要的。说明：表中符号*为随机状态；表1-1 存放器复位后状态表特殊功能存放器初始状态特殊功能存放器初始状态ABPSWSPDPLDPHP0P3IPIE00H00H00H07H00H00

13、HFFH*00000B0*00000BTMODTCONTH0TL0TH1TL1SBUFSCONPCON00H00H00H00H00H00H不定00H0*BPSW00H，表示选存放器0组为工作存放器组；SP07H，说明堆栈指针指向的是片RAM 07H字节存储空间，依据堆栈操作的先加后压原那么，第一个被压入的数据写入到08H单元中；Po-P3FFH，那么代表向各端口线都已经写入1，此时，各端口的作用既可用于输入又可用于输出 。IP00000B，那么说明各个中断源是等级低的优先级； IE000000B，那么说明各个中断均已经被关闭；系统复位是任何微机系统执行的初始化步骤，使控制芯片整体回到默认的硬件

14、状态下。由RESET引脚来控制的52单片机复位，此引脚与高电平相连超过24个振荡周期后，52单片机便可以进入芯片部复位状态，并且可以在此状态下一直等待，一直至RESET引脚转为低电平以后，才校验EA引脚是高电平还是低电平，如果为高电平那么运行芯片部程序的代码，假设为低电平那么会执行外部程序的代码。在系统复位后52单片机将一些其部的重要存放器设置为特定的数值，至于部RAM的数据那么保持不变。5晶振电路：晶振是晶体振荡器的简称，在电路方面它可以等效成一个电容和一个电阻并联再串联一个电容的二端口网络，电学上这个电路有两个谐振点，以频率的上下分把其中较高的频率称为并联谐振，较低的频率称为串联谐振。AT

15、89C52单片机部有一个高增益反相放大器，用于构成振荡器。引脚XTAL2和XTAL1分别是此放大器的输出端和输入端。作为反应器件的片外晶体谐振器与该放大器一起构成一个自激振荡器。电容C2和C1和外接晶体谐振器一起构成并联谐振电路，接在放大器的反应回路中。虽然对外接电容的值没有非常严格的要求，但震荡器频率的上下、震荡器的稳定性、起振的快速性和温度的稳定性会由电容的大小影响。所以，此电路系统的晶体振荡器的值为12MHz，电容的种类应尽量选择瓷电容，电容值大概30F。在电路板焊接时，电容和晶体振荡器应尽可能安装得靠近单片机芯片，这样做是为了减少寄生电容，更好地保证震荡器可靠稳定地工作。负载电容值是晶

16、振的一个重要的参数，为了得到晶振标称的谐振频率，我们可以选择与负载电容值相等的并联电容。3.1.2 ADC0804 芯片ADC0804是用CMOS集成工艺制成的逐次比拟型模数转换芯片。分辨率8位，转换时间100s，输入电压围为05V，增加某些外部电路后，输入模拟电压可为 5V。该芯片有输出数据锁存器，当与计算机连接时，转换电路的输出可以直接连接在CPU数据总线上，无需附加逻辑接口电路。ADC0804芯片管脚如图11.13.1所示引脚名称及意义如下： 图1-2 ADC0804芯片管脚 VIN+、VIN-：ADC0804的两模拟信号输出端，用以接收单极性、双极性和差模输入信号。 DB7DB0：A/

17、D转换器数据输出端，该输出端具有三态特性，能与微机总线相接。 AGND：模拟信号地。 DGND:数字信号地。 CLKIN:外电路提供时钟脉冲输入端。 CLKR:部时钟发生器外接电阻端，与CLKIN端配合可由芯片自身产生时钟脉冲，其频率 为1.1/RC。 CS：片选信号输入端，低电平有效，一旦CS有效，说明A/D转换器被选中，可启开工作。 WR：写信号输入，接收微机系统或其它数字系统控制芯片的启动输入端，低电平有效， 当CS、WR同时为低电平时，启动转换。 RD:读信号输入，低电平有效，当CS、RD同时为低电平时，可读取转换输出数据。 INTR：转换完毕输出信号，低电平有效。输出低电平表示本次转

18、换已完成 。该信号常作为向微机系统发出的中断请求信号。在使用时应注意以下几点： 1.转换时序ADC0804控制信号的时序图如下图，由图可见，各控制信号时序关系为：当CS与WR同为低电平时，A/D转换被启动而在WR上升沿后100s模数完成转换，转换结果存入数据锁存器，同时INTR自动变为低电平，表示本次转换已完毕。如CS、RD同时来低电平，那么数据锁存器三态门翻开，数字信号送出，而在RD高电平到来后三态门处于高阻状态。 2.零点和满刻度调节 ADC0804的零点无需调整。其中Vmax是输入电压的最大值，Vmin是输入电压的最小值。当输入电压与VIN+值相当时，调整VREF/2端电压值是输出码为F

19、EH或FFH。 3.参考电压的调节在使用A/D转换器时，为保证其转换精度，要求输入电压满量程使用，如输入电压动态围较小，那么可调节参考电压VREF，以保证小信号输入时ADC0804芯片8位的转换精度。 4.接地模数、数模转换电路中要特别注意到地线的正确连接，否那么干扰很严重，以致影响转换结果的正确性。A/D、D/A及取样-保持芯片上都提供了独立的模拟地AGND和数字地DGND的引脚。在线路设计中，必须将所有的器件的模拟地和数字地分别相连，然后将模拟地与数字地仅在一点上相连接。地线的正确连接方法。3.1.3 PT100热敏电阻 pt100是铂热电阻，它的阻值跟温度的变化成正比。PT100的阻值与

20、温度变化关系为：当PT100温度为0时它的阻值为100欧姆，在100时它的阻值约为138.5欧姆。它的工业原理：当PT100在0摄氏度的时候他的阻值为100欧姆，它的阻值会随着温度上升而成匀速增长的。 金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示，即 Rt=Rt01+t-t0 式中，Rt为温度t时的阻值；Rt0为温度t0通常t0=0时对应电阻值；为温度系数。半导体热敏电阻的阻值和温度关系为Rt=AeB/t 中Rt为温度为t时的阻值；A、B取决于半导体材料的构造的常数。相比拟而言，热敏电阻的温度系数更大，常温下的电阻值更高通常在数千欧以上，但互换性较差，非线性严重，测温围只有-5030

21、0左右，大量用于家电和汽车用温度检测和控制。金属热电阻一般适用于-200500围的温度测量，其特点是测量准确、稳定性好、性能可靠，在程控制中的应用极其广泛。从电阻随温度的变化来看，大局部金属导体都有这个性质，但并不是都能用作测温热电阻，作为热电阻的金属材料一般要求：尽可能大而且稳定的温度系数、电阻率要大在同样灵敏度下减小传感器的尺寸、在使用的温度围具有稳定的化学物理性能、材料的复制性好、电阻值随温度变化要有间值函数关系最好呈线性关系。3.2 电路系统设计3.2.1 电路设计框图3.2.2 系统仿真测试确定好方案后，用Protues软件搭建好系统电路，将写好的程序下载进仿真图中，运行结果如下图

22、图3-1 系统仿真图4系统软件设计4.1 软件设计流程图4.2主要程序设计#includeat89X52.hsbit LCD_RS =P20;sbit LCD_RW =P21;sbit LCD_E =P22;sbit ADC_CS =P23;sbit ADC_WR =P36;sbit ADC_RD =P37;#define LCD_DATA P0unsigned char LcdBuf110=;unsigned char code Bmp0018= 0x06,0x09,0x09,0x06,0x00,0x00,0x00,0x00, 0x06,0x09,0x10,0x10,0x10,0x09,0x

23、06,0x00;void dellay(unsigned int h) while(h-); /0.01MSvoid WriteDataLcd(unsigned char wdata) LCD_DATA=wdata; LCD_RS=1; LCD_RW=0; LCD_E=0; dellay(1000); LCD_E=1;void WritemandLcd(unsigned char wdata) LCD_DATA=wdata; LCD_RS=0; LCD_RW=0; LCD_E=0; dellay(1000); LCD_E=1;void lcd_init(void) LCD_DATA=0; Wr

24、itemandLcd(0x38); dellay(1000); WritemandLcd(0x38); dellay(1000); WritemandLcd(0x01); WritemandLcd(0x0c);void display_xy(unsigned char x,unsigned char y) if(y=1) x+=0x40; x+=0x80; WritemandLcd(x);void display_string(unsigned char x,unsigned char y,unsigned char *s) display_xy(x,y); while(*s) WriteDa

25、taLcd(*s); s+; void Write_CGRAM(unsigned char add,unsigned char *char_num) unsigned i; add=add3; WritemandLcd(0x40|add+8); for(i=0;i0;i-);void delay1s() int i,j; for(i=1000;i0;i-); for(j=110;j0;j-);void convert() unsigned long value; char i; unsigned long res; int temp,temp2; int w; P1=0xff; ADC_RD=

26、0; for(i=0;i= 0) for(i=6;temp0;i-) LcdBuf1i=temp%10+48; temp/=10; if(temp 0;i-) LcdBuf1i=w%10+48; w/=10; if(i=0&temp -10) LcdBuf1i = 0; i-; LcdBuf1i = -; i-; /* if(i=5) LcdBuf15 = 0; i -; LcdBuf14 = -; i-; */ for(;i=0;i-) LcdBuf1i= ; for(i=0;i5;i+) LcdBuf1i=LcdBuf1i+1; if(LcdBuf14= )LcdBuf14=0; LcdB

27、uf15=.; LcdBuf17=1; LcdBuf18=C; WritemandLcd(0x84); display_string(3,0,LcdBuf1); ADC_RD=1; ADC_WR=0; for(i=0;i10;i+) ADC_WR=1; delayms();main() unsigned char i; lcd_init(); for(i=0;i2;i+) Write_CGRAM(i,Bmp001i); ADC_CS=0; ADC_WR=0; for(i=0;i10;i+); ADC_WR=1; while(1) convert(); delay1s(); 5设计总结在这次实研

28、过程中我们根据已经掌握的理论根底，结合实践，经历几个月的努力，终于完成的单片机数字温度计的设计，该温度计已成功通过测试，运行良好。在整个设计过程中，我们发挥团队精神，分工合作，充分发挥人的主观能动性，自主学习，学到了许多没学到的知识，较好的完成了作品，到达了预期的目的。完了最初的设想。系统调试以程序为主。硬件调试比拟简单，首先检查电路的连接是否正确，然后用万用表测试或通电检测。软件调试可以先编写显示程序并进展硬件的正确性检验，然后分别进展主函数、DS18B20复位函数、DS18B20写字节函数、DS18B20读字节函数、温度计算转换函数、显示函数的等程序的编程及调试。由于DS18B20与单片机

29、采用串行数据传送，因此，对DS18B20进展读写编程时必须严格的保证读写时序，否那么将无法读取测量结果。本程序采用单片机C语言编写，用Keil4编译器编程调试。软件调试到能显示到温度值，而且在有温度变化时例如用手去接触，显示温度发生改变就根本完成。尽管我的设计还存在一定缺陷，但这不是最重要的，最重要的是我学到了很多东西，首先我对单片机的应用有了进一步了解，单片机有很多系列，怎样来选者适合自己工作需要的单片机很重要。对单片机的编程是整个设计中最重要的一个局部，设计中我们使用的是C语言对单片机进展编程，让我们对单片机C语言的认识有了进一步的提高。再者，经过这次设计，让我们对思考问题的方法有了新的认

30、识，刚刚开场做的时候我们真的比拟茫然，因为当时我们都不是很清楚该做什么、怎么做，后来通过查找资料，借鉴别人的设计思路，将别人的思想融会贯穿，终于实现的自己的设计方案。现在我意识到无论自己在做什么都要清楚自己的目的，清楚自己的目的后，并不一定要按照前人的思想去完成自己的任务，自己完全可以按照自己的思想去做，尽管可能到最后发现自己失败了，失败并不是最可怕的，因为它总能让你认识到或学到些什么。脚踏实地，认真严谨，实事的学习态度，不怕困难、坚持不懈、吃苦耐劳的精神是我在这次设计中最大的收益。我想这是一次意志的磨练，是对我实际能力的一次提升，也会对我们未来的学习和工作有很大的帮助。6 参考文献1温度传感器和一线总线协议.林继鹏.传感器技术.20022?单总线数字温度传感器的自动识别技术? .罗文广.电子产品世界.20023?单片机根底实用教程?.念东.中国地质大学. 20054?数字电路与数字电子技术?. 岳怡. 西北工业大学. 2004 5?单片级高级语言C51应用程序设计?. 徐爱钧.电子工业. 2001工程设计评 语工程设计成 绩指导教师签字 年 月 日- - word.zl-