SPC基本名词.docx

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1、SPC基本名词QIS：QualityInformationSystem品质信息系统QS：Qualitysystem质量体系QC：QualityControl质量管理QA：QualityAssessment质量评价TQM：全面质量管理IPQC：In-ProcessQualityControl制程检验PQC：ProcessQualityControl生产经过检验FQC：FinalQualityControl成品检验IQC：IncommingQualityControl进料检验及供货商评分系统OQC：Out-goingQualityControl出货质量管理FMEA：FailureModeandEf

2、fectAnalysis失效形式和效果分析抽样与检验：批检验批批量样本合格判定数缺点不合格品/不良品废品检验方法：目测，光学分析，超声波测控、仪器分析品质标准：抽样计划：通常包括三部分：批量数N，样本数n，合格判定数c计数值抽样：MIL-STD-105E，国内的GB2828-87计量值抽样：MIL-STD-414，国内的GB6378分类根据检验数：全检、抽检、免检根据检验次数分：单次抽样，双次抽样，屡次抽样根据检验严格程度分：减量抽样，正常抽样，加严抽样1抽样用名词批：各种产品，但凡具有一样的来源，且在一样的条件下生产所得到一群一样规格的产品，称为一个批，又称“制造批。一个制造批中的品质变异具

3、有一个分配，在抽样时应尽可能的使检验批的品质接近实际值，这样才可使检验结果正确，因而一个批根据需要分为几个检验批，但必须注意避免将几个批合并为一个检验批。检验批：在统计学中，称为母体或群体。就是在各种批中，按抽样计划，抽出“小加于检验的一个群体。通常检验批要根据允收水准来断定这个检验批能否允收。批量：指每个检验批内产品的单位数据，在统计学中可称为“母体数，通常以“N表示。样本：指从检验批中抽取的以一个以上的单位组成的产品，样本中的各个样品均须随即，而且不考虑它的品质好坏的情况下抽取。样本中所含的产品单位数称为“样本数或“样本大小，以“n表示，一定小于批量数“N。样本观察值：样本中产品的检验值；

4、缺点：产品单位的品质特性不符合双方所规定的规格、图样、讲明或要求等称为缺点，通常用“d表示。分为a严重缺点Criticaldefect；b主要缺点Majordefect；c次要缺点Minordefect。不良品合不合格品：一般产品都有多种品质特性，而这些品质特性里所指定的须检验的项目称为检验项目。假如其中有一个或一个以上的检验项目不符合此要求或规格，但可能符合其它要求或规格，这个产品就为不合格品，假如不合格项目较为严重，如无功能，就为不良品。抽样计划：在使用抽样检验法时，必须先设计一个抽样计划。计数值抽样计划一般包括三个部分：即批量数、样本数及合格断定数。如MILSTD105E、国内的GB28

5、2887等。计量值抽样计划一般包括：规格、样本、各品质指标如平均数、CPK值等。如MILSTD414、国内的GB6378等。2质量指针计数值质量指针不良数不良率PPM(百万分之不良率)缺陷数缺陷率DPMO每百万时机的缺点数(DPMO)，也叫做DPM，制定的一个测量标准，在任何处理经过中关联失败的预期规范。每百万单位的一次失败数，标准化的成果指定1DPMO计量值品质指标规格界线：用于讲明品质特性的最大许可值，来保证各个单位产品的正确性能。或者讲是客户要求的规格，用于判定合格、不合格。在SPC中，主要用来计算经过能力。USL：规格上限SL：规格中心值LSL：规格下限控制界线：是应用于一群体单位产品

6、集体的量度，这种量度是从一群体各个单位产品所得的观察值计算出来的。用于判定生产经过能否处于稳态。USL：规格上限SL：规格中心值LSL：规格下限SGMs规格标准差SGMa制程标准差SPC中的相关标识XUCL：Xbar管制图的管制上限Xbar：Xbar管制图的中心值XLCL：Xbar管制图的管制下限RUCL：Rbar管制图的管制上限RBar：Rbar管制图的中心值RLCL：Rbar管制图的管制下限3经过术语定义经过固有变差：能够从控制图上通过2dR来估计，可以用其它量，如4cs2dR：指通过2dR来估计得出的经过固有变差。经过总变差：可用样本标准差S来估计=-=SniinXXS11)(，式中，X

7、i为所以观察值读数，X为所有观察值均值，其本质为X；经过能力：仅适用于统计稳定的经过，是经过固有变差的6范围；经过性能：经过总变差的6范围；4经过量度指数质量六大特质分析Ca制程准确度Cp制程精细度(制程潜力)Cpk制程能力Cp与Cpk：但经过处于稳态时，就能够计算经过能力。能够先看Cp和Cpk的值和差距，进而判定技能能力和管理能力问题。假如Cp值还行的话，讲明经过技术能力即潜力不错，那应该不需要太大的投入就能够获得一些改善，假如Cp值偏低，那可能需要技术上的改良。Ca：制程准确度Ca=(-(USL+LSL)/2)/(USL-LSL)/2)Cp：制程精细度(制程潜力)，容差宽度除以经过能力，不考虑经过有无偏移，定义为Cp=26dRLSLUSL-Cpl：下限能力指数Cpl=23dRLSLX-Cpu：上限能力指数Cpu=23dRXUSL-Cpk：制程能力，考虑经过中心的能力指数，定义为Cpu和Cpl中的最小值。Pp：性能指数：容差宽度除以经过性能，不考虑经过有无偏移，定义为Pp=sLSLUSL-6Ppk：考虑到经过中心的性能指数，定义为sXUSL-3或sLSLX-3中的最小值